[发明专利]一种投影三维测量方法

权利要求书

1.一种投影三维测量方法，分两次设定光源强度，相机曝光时间和增益值，分别对其表面的亮部分和暗部分做三维测量，对测量结果按照预定阀值做筛选，最后得到被测物体表面三维结果。

2.根据权利要求1所述的一种投影三维测量方法，其特征在于：分别采集被测物体暗部分反射和被测物体亮部分反射的光栅图像；然后使用相同的相位调制解调算法计算出被测物体的两次三维测量结果，以其中一次为基准，对测量结果按照预定阀值做筛选，若像素的灰度值无法达到阀值，用另一次的测量结果做替代，最终得到被测对象亮部分和暗部分的三维测量结果。

3.根据权利要求2所述的一种投影三维测量方法，其特征在于：

(1)设定相机为长曝光时间，高增益方式，投影光源为高亮度，依次投影和采集N张结构光在测量对象表面的反射图片，计算出三维结果同时标记出在N次测量中平均灰度值大与设定阀值的像素；

(2)设定相机为短曝光时间，低增益方式，投影光源为低亮度，依次投影和采集N张结构光在测量对象表面的反射图片，计算出三维结果同时标记出在N次测量中平均灰度值小于与设定阀值的像素；

(3)最后以其中一次的测量数据为基准，其中标记过的像素的三维值用另一次测量的高度值替代，最后得出测量对象表面亮部分和暗部分的三维值。

4.根据权利要求2所述的一种投影三维测量方法，其特征在于：

(1)投影第一次结构光，设定相机为长曝光时间，高增益方式，投影光源为高亮度，采集反射图像标放入一组；设定相机为短曝光时间，低增益方式，投影光源为低亮度，采集反射图像标放入一组；

(2)从一组图像中计算出三维结果同时标记出在N次测量中平均灰度值大与设定阀值的像素，从另一组图像中计算出三维结果同时标记出在N次测量中平均灰度值小于与设定阀值的像素，最后以其中一次的测量数据为基准，其中标记过的像素的三维值用另一次测量的高度值替代，最后得出测量对象表面亮部分和暗部分的三维值。

5.根据权利要求3或4所述的一种投影三维测量方法，其特征在于：同时对于两次测量都没有标定过得像素取两次测量结果的平均值作为该像素最后结果。

6.根据权利要求2～4任一项所述的一种投影三维测量方法，其特征在于：所进行的三维测量进行至少两次，使用至少两次的三维测量，最后整合成最终的三维结果。