[发明专利]微粒测量设备

权利要求书

1.一种微粒测量设备，包括：

液流通路，包含微粒的溶液流经所述液流通路；

光学检测装置，用于将激光束引导至经过所述液流通路的微粒，检测从所述微粒发出的用于测量的光，以及将所检测到的光转换成电信号；

溶液供给装置，用于向所述液流通路供给包含待测微粒的样本溶液或包含表现出相同的光学特性的参考微粒的校准溶液；以及

光轴校正装置，用于响应于来自所述参考微粒的电信号的强度使所述液流通路相对于所述激光束的相对位置最优化。

2.根据权利要求1所述的微粒测量设备，其中，所述光轴校正装置移动所述相对位置，以使来自于所述参考微粒的电信号的强度达到预定值。

3.根据权利要求2所述的微粒测量设备，其中，所述光轴校正装置在所述激光束的入射方向上和/或在垂直于包含所述方向和所述液流通路的流动方向的平面的方向上移动所述相对位置。

4.根据权利要求3所述的微粒测量设备，其中，

所述溶液供给装置向所述液流通路交替地供给所述样本溶液或所述校准溶液，并且

所述光轴校正装置响应于先前在所述校准溶液流向所述液流通路时测量得到的来自于所述参考微粒的电信号的强度，在所述样本溶液流向所述液流通路时使所述相对位置最优化。

5.根据权利要求4所述的微粒测量设备，所述微粒测量设备具有加速度传感器，用于适当地检测所述设备的振动，在所述微粒测量设备中，所述溶液供给装置响应于来自于所述加速度传感器的检测信号的输出而在预定的时间段内向所述液流通路供给所述校准溶液。

6.根据权利要求5所述的微粒测量设备，其中，所述液流通路形成在微芯片上，所述微粒测量设备具有用于测量所述微芯片的温度的温度传感器，所述溶液供给装置在由所述温度传感器测量的值超过预定值时，在预定的时间段内向所述液流通路供给所述校准溶液。