[发明专利]测定元件

说明书

本申请是基于申请号200680044790.7、申请日2006年11月27日、发明名称“测定元件”的中国专利申请提出的分案申请。

技术领域

本发明涉及用于进行试样中所含的被检测物质的光学测定的测定元件。

背景技术

一直以来，作为用于进行试样的光学测定的测定元件(cell)，为了防止设置在测定元件的侧面的光学窗部污损，提出了一种方形玻璃元件，其具有光学窗部有凹面的构造(例如专利文献1)。

专利文献1：日本特开平10-273331号公报

发明内容

但是，上述专利文献1所记载的元件的光学窗部一直露出到外部，因此存在这样的问题，即，不能够很好地保护该光学窗部不受污垢、损伤的侵害，由于在光学窗部上附着污垢或受到损伤而产生误测定。

于是，本发明目的在于，解决上述这样的现有问题，提供通过保护光学窗部而能够防止由污染、损伤所导致的误测定的测定元件。

为了解决上述问题，本发明的测定元件，包括：用于保持试样的试样保持部；用于向所述试样保持部的内部供给试样的开口部；用于使光入射于所述试样保持部的内部、并使光射出至所述试样保持部的外部的光学窗部；沿所述试样保持部的外周可移动地设置、用于保护所述光学窗部的保护罩；和用于将所述保护罩保持在覆盖所述光学窗部的位置上的第一保护罩保持部。

本发明的测定元件，包括测定元件本体和保护罩，所述测定元件本体具有：试样保持部、开口部、光学窗部以及第一保护罩保持部；所述试样保持部用于保持试样；所述开口部用于向所述试样保持部的内部供给试样；所述光学窗部用于使光入射于所述试样保持部的内部、并使光射出至所述试样保持部的外部；所述第一保护罩保持部用于将所述保护罩保持在覆盖所述光学窗部并且露出所述开口部的位置上；所述保护罩用于保护所述光学窗部，其被设置成可沿所述试样保持部的外周进行移动。

根据这样的构成，能够由保护罩保护光学窗部，并且在测定时使该保护罩移动至露出上述光学窗部的位置，由此能够可靠地防止由光学窗部的污损所导致的误测定。

根据本发明的测定元件，因为能够在测定时以外使光学窗部不露出地对其进行保护，所以能够更加可靠地防止由光学窗部的污损所导致的误测定。

本发明的测定装置具有上述测定元件，包括：测定元件安装部，其设有用于插入测定元件的装置开口部，以使所述测定元件可装卸地安装于所述测定装置上；测定结果显示器，用于显示测定结果。

附图说明

图1是表示本发明的测定元件的实施方式1的构造的立体图。

图2是图1所示的测定元件1的A-A线部分的剖视图。

图3是表示图1所示的测定元件1的使保护罩101移动的状态的立体图。

图4是表示本发明的测定元件1的实施方式2的构造的立体图。

图5是表示图4所示的测定元件1的使保护罩101移动的状态的立体图。

图6是表示本发明的测定元件1的实施方式3的构造的立体图。

图7是表示图6所示的测定元件1的使保护罩101移动的状态的立体图。

图8是表示图7所示的测定元件1的使保护罩101进一步移动的状态的立体图。

图9是本发明的实施方式4所涉及的测定元件的构造的立体图。

图10是图9所示的测定元件1的主视图。

图11是图10所示的测定元件1的B-B线部分的剖视图。

图12是实施方式4所涉及的测定元件1的分解立体图。

图13是表示使用了实施方式4所涉及的测定元件1的测定装置2的立体图。

图14是表示图13所示的测定装置2的剖视图。

图15是表示图13和图14所示的测定装置2的构造的框图。

图16是用于说明使用本发明的测定元件1和测定装置2来测定试样中的被检测物质的工序中的一个工序的示意图。

图17是用于说明使用本发明的测定元件1和测定装置2来测定试样中的被检测物质的工序中的其他工序的示意图。

图18是用于说明使用本发明的测定元件1和测定装置2来测定试样中的被检测物质的工序中的另外的其他工序的示意图。

图19是用于说明使用本发明的测定元件1和测定装置2来测定试样中的被检测物质的工序中的另外的其他工序的示意图。

图20是用于说明使用本发明的测定元件1和测定装置2来测定试样中的被检测物质的工序中的另外的其他工序的示意图。

图21是用于说明使用本发明的测定元件1和测定装置2来测定试样中的被检测物质的工序中的另外的其他工序的示意图。