[发明专利]一种可寻址氮化镓基LED显示微阵列及其制备方法有效
申请号: | 201010199274.X | 申请日: | 2010-06-12 |
公开(公告)号: | CN101894851A | 公开(公告)日: | 2010-11-24 |
发明(设计)人: | 黄伟;徐湘海;王胜;王光建;万清;胡南中;王佩;孙国伟;钱媛;刘华玲 | 申请(专利权)人: | 无锡晶凯科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/15 | 分类号: | H01L27/15;H01L21/782;H01L21/60;G09F9/33 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 许方 |
地址: | 214061 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 寻址 氮化 led 显示 阵列 及其 制备 方法 | ||
1.一种可寻址氮化镓基LED显示微阵列,其特征在于包括LED蓝宝石外延片(1)、GaN列矩阵隔离结构(2)、N型欧姆接触引线(4)、InGaN/GaN量子阱薄膜层(5)、有源区(6)、P型欧姆接触(7)、光线反射层(8)以及支撑硅电极,其中支撑硅电极包括硅圆片(12)、SiO2隔离层(13)、金属引线(14)、低温淀积氧化层(15)、反溅射Ti/Au金属层(16)和电镀Au金属层(17、18);以LED蓝宝石外延片(1)为衬底,GaN列矩阵层(2)设置于衬底上,InGaN/GaN薄膜层(5)设置于GaN列矩阵层(2)上,有源区(6)设置于InGaN/GaN薄膜层(5)上,采用干法刻蚀GaN列矩阵层(2)形成多个GaN列矩阵单元,采用干法刻蚀InGaN/GaN薄膜层(5)得到N-GaN导电层(3),GaN列矩阵单元的N-GaN导电层(3)上设置欧姆接触引线(4),在有源区(6)上形成P型欧姆接触(7),在P型欧姆接触(7)上设置光线反射层(8),在以上各部件上设置SiO2钝化层(9),欧姆接触引线(4)和光线反射层(8)的引线外接区域设置反溅射Ti/Au层(10),反溅射Ti/Au层(10)上设置Au层(11);SiO2隔离层(13)设置于硅圆片(12)上,SiO2隔离层(13)上与GaN列矩阵单元对应设置金属位引线(14),金属引线(14)上设置低温淀积氧化层(15),反溅射Ti/Au金属层(16)设置于引线外接的压焊区域(14)上,Au金属层设置于反溅射Ti/Au金属层(16)上。
2.根据权利要求1所述的一种可寻址氮化镓基LED显示微阵列,其特征在于所述Au金属层形状为球形。
3.一种基于权利要求1所述的一种可寻址氮化镓基LED显示微阵列的制备方法,其特征在于包括如下步骤:
1)清洗已激活Mg元素的蓝宝石LED外延片(1);
2)干法刻蚀完GaN层(2)形成多个GaN列矩阵单元;
3)干法刻蚀完InGaN/GaN薄膜层(5),获得N-GaN导电层(3);
4)形成Ti/Al欧姆接触引线(4),设置在N-GaN导电层(3)一侧形成的台阶上,作为阵列的字线;
5)在有源区(6)上形成金属层Ag1的P型欧姆接触(7);
6)在P型欧姆接触(7)上形成金属薄层Ag2的光线反射层(8);
7)设置SiO2钝化层;
8)在Ti/Al欧姆接触引线(4)和光线反射层(8)的引线外接区域上设置反溅射Ti/Au层(10);
9)在反溅射Ti/Au层(10)上设置Au层(11);
10)设置低温淀积SiO2隔离层(13),隔离金属引线(14)与硅圆片(12);
11)设置溅射金属引线(14),作为可寻址LED微阵列的位线连接线;
12)将低温淀积氧化层(15)设置于金属引线(14)外;
13)反溅射Ti/Au金属层(16)设置于金属引线(14)的外接的压焊区域上,电镀Au金属层结构17即字线连接点和18即位线连接点于反溅射Ti/Au金属层(16)上;
14)绑定Bonding工艺,实现LED显示阵列与支撑硅的压焊区对接。
4.一种基于权利要求1所述的一种可寻址氮化镓基LED显示微阵列的制备方法,其特征在于步骤5)所述金属层Ag1的厚度500±100
5.一种基于权利要求1所述的一种可寻址氮化镓基LED显示微阵列的制备方法,其特征在于所述金属薄层Ag2的厚度2000±300
6.一种基于权利要求1所述的一种可寻址氮化镓基LED显示微阵列的制备方法,其特征在于所述LED显示微阵列中发光阵列之间为等比例变间距,相邻阵列之间的间距比例为1/2~2/3。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的