[发明专利]覆晶发光二极管晶粒及其晶粒阵列无效

专利信息
申请号: 201010202884.0 申请日: 2010-06-10
公开(公告)号: CN102280553A 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 杨秋忠;林苏宏;黄建盛;沈志秋;许明华;杨凯任 申请(专利权)人: 杨秋忠
主分类号: H01L33/36 分类号: H01L33/36;H01L33/48
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 陈红
地址: 中国台湾台中市南*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 发光二极管 晶粒 及其 阵列
【权利要求书】:

1.一种覆晶发光二极管晶粒,其特征在于,包括:

一第一型掺杂半导体层;

一第二型掺杂半导体层,铺设于该第一型掺杂半导体层的底面;

一第一电极层,铺设于第一型掺杂半导体层的底面且不接触该第二型掺杂半导体层,且具有一裸露面积以供直接涂布一导电接合剂;

一第二电极层,铺设于第二型掺杂半导体层的底面,且具有一裸露面积以供直接涂布该导电接合剂;以及

一绝缘层,位于该第一电极层与该第二电极层间,以电性隔离且支撑该第一电极层与该第二电极层。

2.根据权利要求1所述的覆晶发光二极管晶粒,其特征在于,该裸露面积为至少625平方微米,且该导电接合剂为一银胶。

3.根据权利要求1所述的覆晶发光二极管晶粒,其特征在于,该裸露面积为至少10000平方微米,且该导电接合剂为一锡膏。

4.根据权利要求1所述的覆晶发光二极管晶粒,其特征在于,还包括一金属反射层,铺设于该第二型掺杂半导体层与该第二电极层间。

5.根据权利要求4所述的覆晶发光二极管晶粒,其特征在于,还包括一布拉格反射结构,位于该金属反射层与该第二型掺杂半导体层间。

6.根据权利要求1所述的覆晶发光二极管晶粒,其特征在于,还包括一透光覆盖层,铺设于该第一型掺杂半导体层的顶面。

7.根据权利要求6所述的覆晶发光二极管晶粒,其特征在于,还包括一粗化结构,位于该透光覆盖层的外表面。

8.根据权利要求6所述的覆晶发光二极管晶粒,其特征在于,还包括一粗化结构,位于该第一型掺杂半导体层的侧表面。

9.根据权利要求6所述的覆晶发光二极管晶粒,其特征在于,该透光覆盖层为一图案化蓝宝石基板。

10.一种覆晶发光二极管晶粒阵列,其特征在于,包括:

多个如权利要求1~9任一权利要求所述的覆晶发光二极管晶粒;以及

一金属图案层,用以对每一该些第一电极层与第二电极层进行选择性电性连接,以串并联该些覆晶发光二极管晶粒。

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