[发明专利]具有自动时序调整功能的集成电路及时序调整方法有效
申请号: | 201010206261.0 | 申请日: | 2010-06-13 |
公开(公告)号: | CN101930785A | 公开(公告)日: | 2010-12-29 |
发明(设计)人: | 胡志廷;陈耕晖;洪俊雄 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C7/04 | 分类号: | G11C7/04 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 自动 时序 调整 功能 集成电路 方法 | ||
1.一种调整集成电路的时序的方法,其特征在于,包括:
施加一参考信号至该集成电路;
比较该参考信号与该集成电路所产生的一内部信号;以及
根据一比较结果,执行自动调整来调整该内部信号。
2.根据权利要求1所述的调整集成电路的时序的方法,其特征在于,该自动调整执行包括:调整该集成电路的至少一内部参数。
3.根据权利要求1所述的调整集成电路的时序的方法,其特征在于,该内部信号的调整包括:烧断多个内部熔丝,以此改变一电阻结构,以改变控制一频率信号的一频率的一电阻值。
4.根据权利要求1所述的调整集成电路的时序的方法,其特征在于,该内部信号的调整包括:烧断多个内部熔丝,以此改变一电阻结构,以改变控制一内部电源电压的一电阻值。
5.根据权利要求1所述的调整集成电路的时序的方法,其特征在于:在施加该参考信号之后,执行该自动调整;以及
根据该自动调整的结果,储存一集成电路组态。
6.根据权利要求1所述的调整集成电路的时序的方法,其特征在于,更包括:根据该比较结果判定一集成电路合格。
7.根据权利要求1所述的调整集成电路的时序的方法,其特征在于,更包括:根据该比较结果判定一集成电路故障。
8.一种时序调整方法,其特征在于,包括:
施加一参考信号至一集成电路,其中该集成电路具有一自动内部调整功能;
比较该参考信号与该集成电路所产生的一内部信号;以及
根据一比较结果,调整该集成电路的至少一内部参数。
9.根据权利要求8所述的时序调整方法,其特征在于,施加该参考信号包括:施加一序列的多个脉冲,该序列中的各该脉冲所具有的一工作周期大于前一脉冲所具有的工作周期。
10.根据权利要求9所述的时序调整方法,其特征在于,比较该参考信号与该集成电路所产生的该内部信号包括:根据该内部信号,于多个瞬间取样该参考信号。
11.根据权利要求10所述的时序调整方法,其特征在于,更包括:该内部信号的多个脉冲的下降边缘对于该参考信号所取样的值储存为一序列的多个取样结果。
12.根据权利要求11所述的时序调整方法,其特征在于,更包括:当该序列的结果出现一第一模式类型时,分配一第一分类至集成电路的时序,当该序列的结果出现一第二模式类型时,分配一第二分类至集成电路的时序,以及当该序列的结果出现一第三模式类型时,分配一第三分类至集成电路的时序,以分类该集成电路的时序。
13.根据权利要求12所述的时序调整方法,其特征在于,更包括:当该第二分类被分配至该集成电路的时序时,分类该集成电路为合格。
14.根据权利要求12所述的时序调整方法,其特征在于,更包括:
当第一分类与第三分类其中之一被分配至该集成电路的时序时,决定自动内部调整是否可行;
当自动内部调整是可行时,执行自动内部调整;以及
当第一分类与第三分类其中之一被分配至该集成电路的时序且当自动内部调整不可行时,将该集成电路分类为故障。
15.一种具有自动时序调整功能的集成电路,其特征在于,包括:
一界面控制区块,接收一芯片选择信号、一外部参考信号与一自动调整致能信号,并根据该外部参考信号来产生一内部芯片控制信号与一内部参考信号;
一内部时序电路与一读取熔丝信息区块,该内部时序电路用以从该读取熔丝信息区块接收熔丝信息,并根据该熔丝信息与该内部参考信号来产生一读取速度时序参考信号;以及
一时序结果组合与分类芯片电路,接收该读取速度时序参考信号与该内部参考信号,并根据该读取速度时序参考信号来产生该外部参考信号的多个取样。
16.根据权利要求15所述的具有自动时序调整功能的集成电路,其特征在于,该读取熔丝信息区块用以从一熔丝信息存储区块接收该熔丝信息。
17.根据权利要求16所述的具有自动时序调整功能的集成电路,其特征在于,更包括一自动内部时序调整电路,其用以接收该外部参考信号的所述多个取样、产生所述多个取样的一分类以及根据该分类产生用以调整该内部时序电路的多个参数。
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