[发明专利]基于经验模态分解的设备或系统机内测试信号虚警滤波方法有效

专利信息
申请号: 201010207247.2 申请日: 2010-06-23
公开(公告)号: CN101853242A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 沈毅;张淼;王强 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G06F17/14 分类号: G06F17/14;B63B9/00
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 张果瑞
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 基于 经验 分解 设备 系统 测试 信号 滤波 方法
【权利要求书】:

1.一种基于经验模态分解的设备或系统机内测试信号虚警滤波方法,其特征在于它包括如下步骤:

步骤一:对输入的机内测试信号进行经验模态分解,提取3个本征模态函数分量和1个残差;

步骤二:对提取的第2阶本征模态函数分量IMF2进行自适应衰减处理,获取衰减后分量DIMF2;

步骤三:对衰减后分量DIMF2与第1阶本征模态函数分量、第3阶本征模态函数分量和残差进行信号叠加处理,获得机内测试信号的滤波信号,完成对机内测试信号的虚警滤波。

2.根据权利要求1所述的基于经验模态分解的设备或系统机内测试信号虚警滤波方法,其特征在于步骤一提取3个本征模态函数分量和1个残差的过程为:

设定输入的机内测试信号为,,

步骤a、IMF分解过程初始化:,且满足关系式成立,其中为第次分解后剩余的残差函数;

步骤b、筛选过程初始化,,且满足关系式成立,其中为第次IMF分解中经过第次筛选后的剩余函数;

步骤c、根据筛选程序获取输入的机内测试信号经过第次本征模态函数分解的剩余的残差函数中经过第次筛选后的剩余函数;

步骤d、采用标准偏差准则判断输入的机内测试信号经过第次本征模态函数分解的剩余的残差函数中经过第次筛选后的剩余函数是否满足本征模态函数的条件,即是否小于阈值T,;

判断结果为是,执行步骤e,判断结果为否,则,然后执行步骤c,

步骤e、提取一个本征模态函数IMF分量;

步骤f、获取输入的机内测试信号经过第次本征模态函数分解的剩余的残差函数;

步骤g、判断是否满足下述关系式成立:;

判断结果为否,则,然后执行步骤b,判断结果为是,完成提取过程,获得3个本征模态函数分量IMF1、IMF2和IMF3:;和个经过第次本征模态函数分解的剩余的残差RES:。

3.根据权利要求2所述的基于经验模态分解的设备或系统机内测试信号虚警滤波方法,步骤c根据筛选程序获取输入信号经过第次本征模态函数分解的剩余趋势函数中经过第次筛选后的剩余函数的过程为:

步骤c1、利用三次样条函数获取输入信号经过第次本征模态函数分解的剩余趋势函数中经过第次筛选后的剩余函数的上、下包络,

步骤c2、计算所述剩余函数上、下包络曲线在各个的均值,

步骤c3、获取输入信号经过第次本征模态函数分解的剩余趋势函数中经过第次筛选后的剩余函数。

4.根据权利要求2所述的基于经验模态分解的设备或系统机内测试信号虚警滤波方法,其特征在于,步骤d中T=0.25。

5.根据权利要求1所述的基于经验模态分解的设备或系统机内测试信号虚警滤波方法,其特征在于所述的步骤二中衰减后分量DIMF2按如公式获取:

其中衰减因子采用下式计算:

6.根据权利要求1所述的基于经验模态分解的设备或系统机内测试信号虚警滤波方法,其特征在于所述的步骤三所述机内测试信号的滤波信号按如下公式获取:

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