[发明专利]发光二极管芯片及其制造方法有效
申请号: | 201010213947.2 | 申请日: | 2010-06-29 |
公开(公告)号: | CN101887938A | 公开(公告)日: | 2010-11-17 |
发明(设计)人: | 张汝京 | 申请(专利权)人: | 张汝京 |
主分类号: | H01L33/36 | 分类号: | H01L33/36;H01L33/14 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 芯片 及其 制造 方法 | ||
1.一种发光二极管芯片,包括:衬底及衬底上的发光外延叠层,所述发光外延叠层依次包括:n型界面层;n型界面层上的发光层;发光层上的p型界面层,其特征在于,所述p型界面层与所述发光层、n型界面层的面积相同;所述p型界面层上具有p电极;所述衬底的背面具有外接电极层;所述n型界面层的侧壁通过导电部与所述外接电极层电连接。
2.如权利要求1所述的发光二极管芯片,其特征在于,所述n型界面层边缘的杂质离子浓度大于中心的杂质离子浓度。
3.如权利要求1所述的发光二极管芯片,其特征在于,所述p型界面层上具有导电层,所述p电极位于所述导电层上。
4.如权利要求3所述的发光二极管芯片,其特征在于,所述导电层的材料为SnO2、ITO、IZO、AZO中的一种。
5.如权利要求1所述的发光二极管芯片,其特征在于,所述发光外延叠层与所述衬底间还具有缓冲层。
6.如权利要求5所述的发光二极管芯片,其特征在于,所述发光二极管为蓝光发光二极管;所述缓冲层的材料为GaN;所述n型界面层的材料为n型掺杂的GaN;所述发光层的材料为GaN或InGaN;所述p型界面层的材料为p型掺杂的GaN。
7.如权利要求1所述的发光二极管芯片,其特征在于,所述导电部的材料为银胶、铝胶、银铝胶中的一种。
8.如权利要求1所述的发光二极管芯片,其特征在于,所述外接电极层为金属板。
9.一种发光二极管芯片的制造方法,包括:在衬底上形成发光外延叠层,依次包括:在衬底上形成n型界面层;在所述n型界面层上形成发光层;在所述发光层上形成p型界面层,
其特征在于,还包括:
对具有所述发光外延叠层的衬底进行划片;
将划片后的衬底背面与外接电极层粘接,以及在划片后的n型界面层的侧壁形成导电部,所述导电部使得所述n型界面层与所述外接电极层电连接;
在划片后的p型界面层上形成p电极。
10.如权利要求9所述的发光二极管芯片的制造方法,其特征在于,在衬底上形成n型界面层包括:
在衬底上形成第一界面层;
对所述第一界面层进行第一次n型离子注入,形成第一n型界面层;
在第一n型界面层上遮盖掩模层,并对第一n型界面层继续进行n型离子注入,使得所述n型界面层边缘的杂质离子浓度大于中心的杂质离子浓度。
11.如权利要求9所述的发光二极管芯片的制造方法,其特征在于,在衬底上形成n型界面层之前,在衬底上先形成缓冲层。
12.如权利要求9所述的发光二极管芯片的制造方法,其特征在于,在划片之前,在所述发光外延叠层上形成导电层。
13.如权利要求12所述的发光二极管芯片的制造方法,其特征在于,所述导电层的材料为SnO2、ITO、IZO、AZO中的一种。
14.如权利要求9所述的发光二极管芯片的制造方法,其特征在于,所述外接电极层为金属板;
将划片后的衬底背面与外接电极层粘接,以及在划片后的n型界面层的侧壁形成导电部包括:
将划片后的衬底背面与金属板粘接;
在自衬底至n型界面层的侧壁上涂覆导电材料。
15.如权利要求14所述的发光二极管芯片的制造方法,其特征在于,所述导电材料为银胶、铝胶、银铝胶中的一种。
16.如权利要求9所述的发光二极管芯片的制造方法,其特征在于,所述划片为机械划片、激光划片或水导激光划片。
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