[发明专利]一种优化集成电路版图电磁分布的方法有效
申请号: | 201010214250.7 | 申请日: | 2010-06-30 |
公开(公告)号: | CN102314524A | 公开(公告)日: | 2012-01-11 |
发明(设计)人: | 吴玉平;陈岚;叶甜春 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 王建国 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 优化 集成电路 版图 电磁 分布 方法 | ||
1.一种优化集成电路版图电磁分布的方法,其特征在于,包括:
步骤1,输入电路网表、电路仿真结果、电路的物理版图和电路的物理设计规则;
步骤2,根据所述电路网表、电路仿真结果以及电路的物理版图进行电路分析,确定该电路中的高频器件和高频线网、敏感器件和敏感线网,以及关键器件和关键线网;
步骤3,根据所述电路的物理设计规则,在所述电路的物理版图上设定填充障碍;
步骤4,根据所述电路仿真结果进行电磁分析,确定所述电路的物理版图上的电磁热点;
步骤5,根据所述电磁热点在金属层上填充接地金属图形,直至不能通过新的接地金属填充优化电路的物理版图电磁分布;
步骤6,输出填充的金属图形到物理版图数据库。
2.如权利要求1所述的优化集成电路版图电磁分布的方法,其特征在于,在所述步骤2中,确定该电路中的高频器件和高频线网的步骤具体包括:
步骤21,根据所述电路网表进行信号流分析,确定高频器件和高频线网;
步骤22,根据所述电路仿真结果中的信号频率,确定高频器件和高频线网;
步骤23,所述电路网表与电路的物理版图得到的电路网表进行一致性比较,确定高频器件和高频线网物理连线的几何位置。
3.如权利要求1所述的优化集成电路版图电磁分布的方法,其特征在于,在所述步骤2中,确定该电路中的敏感器件和敏感线网的步骤具体包括:
步骤31,根据所述电路网表进行信号流分析,确定敏感器件和敏感线网;
步骤32,根据所述电路仿真结果中的信号变化的幅度和信号频率,确定敏感器件和敏感线网;
步骤33,所述电路网表与电路的物理版图得到的电路网表进行一致性比较,确定敏感器件和敏感线网物理连线的几何位置。
4.如权利要求1所述的优化集成电路版图电磁分布的方法,其特征在于,在所述步骤2中,确定该电路中的关键器件和关键线网的步骤具体包括:
步骤41,根据所述电路网表进行信号流分析,确定关键器件和关键线网;
步骤42,根据所述电路仿真结果中的信号变化的幅度和信号频率,确定关键器件和关键线网;
步骤43,所述电路网表与根据电路的物理版图得到的电路网表进行一致性比较,确定关键器件和关键线网物理连线的几何位置。
5.如权利要求2、3或4所述的优化集成电路版图电磁分布的方法,其特征在于,所述步骤3具体包括:
步骤51,根据一般器件的版图信息和电路的物理设计规则,计算一般器件的保护距离;
步骤52,根据一般线网物理连线的金属层次和几何信息,以及所述电路的物理设计规则,计算一般线网的保护距离;
步骤53,根据所述关键器件的版图信息和电路性能随所述关键器件变化的敏感程度,以及所述电路的物理设计规则,计算所述关键器件的保护距离;
步骤54,根据所述关键线网物理连线的金属层次、几何信息和电路性能对所述关键线网的敏感程度,以及所述电路的物理设计规则,计算所述关键线网的保护距离;
步骤55,在所述一般器件和关键器件的保护距离之内,以及一般线网和关键线网的保护距离之内,分别设置填充金属图形的障碍。
6.如权利要求5所述的优化集成电路版图电磁分布的方法,其特征在于,所述步骤4具体包括:
步骤61,根据所述电路仿真结果,确定所述电路的物理版图上的电磁源;
步骤62,对所述电磁源进行三维电磁仿真,确定所述电路的物理版图上的电磁热点。
7.如权利要求6所述的优化集成电路版图电磁分布的方法,其特征在于,所述步骤5具体包括:
步骤71,根据所述电磁热点寻找对其它器件和线网存在干扰的高频器件和高频线网;
步骤72,在所述高频器件和高频线网的邻近区域,依据所述电路的物理设计规则插入接地金属图形;
步骤73,寻找收到电磁干扰的敏感器件和敏感线网;
步骤74,在所述敏感器件和敏感线网的邻近区域,依据所述电路的物理设计规则插入接地金属图形。
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