[发明专利]一种适用于高能X射线DR扫描系统的射线能量波动校正方法

权利要求书

1.一种适用于高能X射线DR扫描系统的射线能量波动校正方法，其特征在于包括有下列步骤：

步骤一：求取原始DR图像I(y，z)中每行的参考射线强度I₀(z)；

参考射线强度I₀(z)为原始DR图像I(y，z)每行中接收到没有贯穿物体的射线强度的探测单元的输出值，一般取每行的前N个探测单元的输出值的均值，并用该均值作为该行数据的参考射线强度；

所述参考射线强度与每行探测单元的输出值的关系为所述N＝3～5，且N＜＜M，M表示线阵列探测器的探测单元总数目，N表示参考探测单元的数目，y表示在DR扫描系统坐标系下的Y轴参数，z表示在DR扫描系统坐标系下的Z轴参数，I(y，z)表示对应在DR扫描系统坐标系下的原始DR图像；

步骤二：对原始DR图像I(y，z)中的每行数据进行对数变换，得到第一变换DR图像I₁(y，z)，则对数变换表达形式为

步骤三：对步骤二获得的第一变换DR图像I₁(y，z)进行列平均得到一维图像数列M表示线阵列探测器的探测单元总数目；

步骤四：运用一维高通滤波器对步骤三获得的一维图像数列进行滤波，得到p(z)的高频成分p_H(z)；

所述一维高通滤波器中的n表示滤波器的阶次，一般取值6～9；w表示滤波器的频率变量，w_c表示滤波器截止频率，一般取w_c＝0.5w₀～0.8w₀，w₀表示Nyquist频率；

步骤五：对步骤二获得的第一变换DR图像I₁(y，z)中的各列减去步骤四获得的高频成分p_H(z)得到第二变换DR图像I₂(y，z)；

步骤六：选取出步骤五中获得的第二变换DR图像I₂(y，z)中的最大值Max(I₂(y，z))，然后用Max(I₂(y，z))减去I₂(y，z)实现反色变换，得到校正后的最终DR图像I_corr(y，z)＝Max(I₂(y，z))-I₂(y，z)。

2.根据权利要求1所述的适用于高能X射线DR扫描系统的射线能量波动校正方法，其特征在于：步骤四中对p(z)进行高通滤波获取其高频成分p_H(z)的具体实现步骤为：首先对一维图像数列p(z)进行傅立叶变换P(w)＝FFT(p(z))得到其频域信号P(w)，然后将P(w)与H(w)的相乘结果进行逆傅立叶变换p_H(z)＝IFFT(P(w)×H(w))得到p(z)的高频成分p_H(z)，p_H(z)即为反映射线能量波动特性的信号；其中FFT表示傅立叶变换，IFFT表示逆傅立叶变换。

3.根据权利要求1所述的适用于高能X射线DR扫描系统的射线能量波动校正方法，其特征在于：步骤四中一维高通滤波器中的Nyquist频率为d表示线阵列探测器探测单元尺寸，一般为0.2～0.05mm。