[发明专利]邻苯二甲酸酯类增塑剂的检测方法有效

专利信息
申请号: 201010217703.1 申请日: 2010-07-05
公开(公告)号: CN101858897A 公开(公告)日: 2010-10-13
发明(设计)人: 李宣;江丽媛;卢瑜;梁淑雯;禹伟腾;杨曦;周昆;郭宗宁 申请(专利权)人: 深圳出入境检验检疫局玩具检测技术中心
主分类号: G01N30/02 分类号: G01N30/02;G01N27/62;G01N1/28
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 易钊;张秋红
地址: 518045 广东省深圳市福*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 邻苯二 甲酸 增塑剂 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种检测方法,尤其涉及一种邻苯二甲酸酯类增塑剂的检测方法。

背景技术

由于邻苯二甲酸酯类化合物与PVC等塑料有良好的相容性,经常作为通用增塑剂使用,但是该类化合物已经被证明对人的生殖系统有损害。欧盟已经禁止在玩具和儿童用品中使用六种邻苯二甲酸酯类增塑剂,这六种增塑剂包括邻苯二甲酸二丁酯(DBP,CAS:84-74-2)、邻苯二甲酸丁苄酯(BBP,CAS:85-68-7)、邻苯二甲酸二(2-乙己基)酯(DEHP,CAS:117-81-7)、邻苯二甲酸二正辛酯(DNOP,CAS:117-84-0)、邻苯二甲酸二异壬酯(DINP,CAS:28553-12-0)和邻苯二甲酸二异癸酯(DIDP,CAS:26761-40-0),美国2008年出台的消费品安全促进法也禁止在玩具中使用以上六种物质,所以这六种邻苯二甲酸酯的测定就非常重要。

以上六种邻苯二甲酸酯的测定一般采用气相色谱质谱法,其中质谱采用电子电离EI的模式。邻苯二甲酸酯的质谱断裂一般有两个裂解途径,反应历程1为α断裂加γH重排的质谱离子碎片断裂,一般产生碎片离子(1)和碎片离子(2)这两种碎片离子:

反应历程2为连续γH重排的质谱离子碎片断裂,一般产生如下两种碎片离子:碎片离子(3)和碎片离子(4):

根据上述两种质谱离子碎片断裂反应历程,这些反应可以归纳为C-O、C-H化学键的断裂和O-H化学键生成。以上化学键的断裂需要吸收能量,化学键的生成可以释放能量,化学键的键能见下表1。

表1  不同化学键的键能数据

  化学键  C-O  C-H  O-H  键能(KJ/mol)  约350  约400  约400

根据以上的化学键键能,两种历程的碎片离子断裂反应都是吸热反应,所以反应不会自发进行。为了使以上离子断裂反应能够进行,所以必须给这些反应提供能量。根据表1中C-O、C-H和O-H的键能数据,无论是发生α断裂加γH重排的质谱离子碎片断裂,还是连续γH重排的质谱离子碎片断裂,所需要的能量约为300KJ/mol。

采用电子电离EI的方式提供能量时,提供的电子能量非常大,离子断裂反应会顺利进行下去,任何邻苯二甲酸酯都会得到反应历程1中的产物--碎片离子(2),m/z为149,所以任何邻苯二甲酸酯的EI质谱图都非常相似,基峰都是m/z 149,并且分子离子峰很小,这就容易给定性鉴别上带来困难。同时,从定量分析的角度来看,从电子电离谱图中所选的定量离子的相对丰度低,也在一定程度上影响了分析方法的灵敏度。

另外,在六种邻苯二甲酸酯中,DINP和DIDP分别由一系列同分异构体组成,每个标准品的色谱峰都是一系列的小峰形成的色谱组峰。而且这两种化合物分子结构相似,分子式只差了C2H4,色谱保留时间重叠,所以这两个化合物在色谱上是一系列的共流出物,色谱不能把它们分开。

所以在测定DINP和DIDP时,不能采用m/z149进行定性鉴别和定量测定。为了测定DINP和DIDP这两个色谱共流出物,必须找出这两个化合物在质谱上的不同的离子。目前通用的测定方法一般采用m/z293测定DINP,采用m/z307测定DIDP,但是这样的方法会带来以下几个问题。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳出入境检验检疫局玩具检测技术中心,未经深圳出入境检验检疫局玩具检测技术中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010217703.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top