[发明专利]光学读取系统与方法有效

专利信息
申请号: 201010220721.5 申请日: 2006-03-13
公开(公告)号: CN101866666A 公开(公告)日: 2010-10-20
发明(设计)人: 辛国鼎;谢坤宏 申请(专利权)人: 联发科技股份有限公司
主分类号: G11B7/24 分类号: G11B7/24;G11B7/12;G11B7/004
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 任默闻
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 光学 读取 系统 方法
【说明书】:

本申请为中国专利申请CN200610057030.1的分案申请,原申请的申请日为2006年3月13日,优先权日为2005年3月28日,发明名称为:光学记录系统与方法。

技术领域

本发明是有关于资料读取,且特别有关于一种光学读取系统与方法。

背景技术

近年来,在资料储存媒介的演进中,光储存媒介,如光盘(CD)、可录式光盘(CD-R、CD-RW)等扮演了一个很重要的角色。光储存媒介的兴起,取代了以往低容量、笨重的资料储存型态,使得资料可以在高容量且易于携带的轻薄碟片中进行记录与备份。

目前相位变化(phase-change)的光学储存媒体,是将资料记录在沟轨道中。当资料记录在沟轨道中时,阶轨道可以引导记录激光,并减少在毗邻沟轨道之间进行记录时的信号干扰。

近年来也出现了将资料记录在沟轨道及阶轨道中的资料记录方式。

参见图1,其是具有交替出现沟轨道和阶轨道的光盘。光盘10具有单一螺旋轨道,其中沟轨圈11和阶轨圈13在标头(header)151处相接,且沟轨圈11和阶轨圈13是设于单一的连续螺旋轨道上。每一沟轨圈11和阶轨圈13都通过轨道交替处的标头151和分散于其它位置的标头152而分隔为多个区段153。依据图1,每一圈轨道包含8个区段。光盘上各圈轨道的区段数目可以有数十个之多,且较外围的轨道圈包含的区段数比内圈的更多。

图2显示上述图1所示的光盘的一横截面。光盘20包含多个交替出现的阶轨圈22及沟轨圈24。依据一传统的资料记录方法,将资料记录于阶轨圈22及沟轨圈24中时,是使用同样的功率电平。这样的功率控制方式,是假设在阶轨圈22及沟轨圈24中具有同样的资料记录条件。然而,由于构造上的差异,阶轨圈和沟轨圈具有不相同的资料记录条件。因此,当将资料记录在阶轨圈及沟轨圈时,具有同样能量的光束可能会在阶轨圈及沟轨圈产生不一致长度的资料标记。因此,在阶轨圈及/或沟轨圈记录资料的位错误率可能会升高。

为了降低阶轨圈及/或沟轨圈记录资料的位错误率,当记录资料时,光束强度会随着记录在阶轨圈或沟轨圈上而有所不同。而记录资料的轨道种类,是依据每一区段中,标头部分所记录的信息来决定。然而,这种方式非常容易出错,尤其是在高速旋转时,或是高噪声时,更是如此。

发明内容

有鉴于此,本发明的主要目的是提供一种光学读取系统与方法,其能够适当的调整读取功率,以达到较佳的读取结果。

为了达成本发明的上述目的,可通过本发明所提供的光学读取系统与方法来达成。

本发明提供一种用以控制光盘上的资料读取操作的系统。其中所述光盘包含记录有资料的一轨道,其中该轨道包含依据一预定规格设置的交替出现的阶轨圈(land revolution)及沟轨圈(groove revolution),其中每一阶轨圈和沟轨圈包含多个区段(sector)。该系统包括一第一计数器,其是用以依据一提供的频道位时钟脉冲信号(channel bit clock signal)执行一位计数;一第二计数器,其是用以依据第一计数器执行的位计数执行一区段计数;一阶轨圈/沟轨圈交界点预测器,其是用以依据一提供的物理识别资料决定一读取操作起始点所在的区段的轨道种类,以及使用所述位计数以决定该读取操作是否将读取到次一区段,并使用所述区段计数来预测阶轨圈/沟轨圈交界点;以及一功率控制器,其是依据阶轨圈/沟轨圈交界点预测器的预测结果,决定读取操作适用的一读取功率。

本发明也提供用以在光盘上读取资料的系统,其中所述光盘包含记录有资料的一轨道,其中该轨道包含依据一预定规格设置的交替出现的阶轨圈(land revolution)及沟轨圈(groove revolution),其中每一阶轨圈和沟轨圈包含多个区段(sector)。该系统包括读写头、侦测器、控制器。所述读写头提供光至所述光盘,并接收从所述光盘反射的光,并依据该接收的反射光,提供信号;所述侦测器是用以从所述信号中撷取一物理识别资料(physical ID,PID);所述控制器依据一提供的频道位时钟脉冲信号(channel bit clocksignal)执行一位计数,依据第一计数器执行的位计数执行一区段计数,依据PID决定一读取操作起始点所在的区段的轨道种类,使用位计数以决定读取操作是否将读取到次一区段,并使用区段计数来预测阶轨圈/沟轨圈交界点。

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