[发明专利]一种全面的激光测高回波仿真方法有效

专利信息
申请号: 201010221501.4 申请日: 2010-07-02
公开(公告)号: CN101915912A 公开(公告)日: 2010-12-15
发明(设计)人: 易帆;黄春明;张绍东;余长明;张云鹏;何裕金;岳显昌 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01S7/48 分类号: G01S7/48
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 张火春
地址: 430072*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 全面 激光 测高 回波 仿真 方法
【权利要求书】:

1.一种全面的激光测高回波仿真方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)输入激光测高仪的硬件参数;

(2)输入激光测高仪的飞行参数;

(3)输入大气与地表的光学参数;

(4)输入地表高度模型数据:地表高度模型用矩形点集(x,y,t,cod)来表示,其中x和y为网格点的横坐标与纵坐标,表征网格点在与天底方向垂直平面上的位置,t为渡越时间,cod为网格点的高度模型类型;

(5)对地面高度数据进行初步的处理,剔除光斑以外的数据,保留光斑以内的数据;

(6)在xoy平面组成三角形网格,确定每个三角单元的高度模型类型;

(7)根据发射脉冲功率面密度的空间分布、三角形单元在光斑内的位置和高度模型类型,计算每个三角单元的功率面密度;

(8)选择计算回波合适的时间单元长度,根据高度模型类型,确定每个三角单元渡越时间的分布范围,根据每个时间单元所占据的面积及其功率面密度,计算每个时间单元的返回光子数目;

(9)将激光光斑内每个三角单元的回波信号叠加起来,得到整个光斑内的回波信号H(n);

(10)根据激光器发射脉冲功率的时间分布I(n),利用卷积和求系统对激励I(n)的响应Y(n):Y(n)=I(n)*H(n);

(11)利用LM方法对有植被覆盖地面的仿真回波进行高斯拟合,获得最后一个高斯分量之外的每个高斯分量的能量与总回波能量的比,将它定义为该层植被在地表足迹光斑内所占据的有效面积比。

2.根据权利要求1所述的全面的激光测高回波仿真方法,其特征在于:

所述激光测高仪的硬件参数包括激光波长、激光发散角、激光发射能量、激光脉冲宽度、望远镜接收面积和系统透过率。

3.根据权利要求1所述的全面的激光测高回波仿真方法,其特征在于:

所述激光测高仪的飞行参数包括轨道高度Rh和天底偏离角φ。

4.根据权利要求1所述的全面的激光测高回波仿真方法,其特征在于:

所述大气与地表的光学参数包括大气透过率和地表反射率。

5.根据权利要求1所述的全面的激光测高回波仿真方法,其特征在于:

步骤(5)所采用的判据为(x-x0)2+(y-y0)2≤a2,其中a为光斑半径,这里取地表足迹光斑的3倍空间均方根宽度。

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