[发明专利]电阻电桥架构和方法有效

专利信息
申请号: 201010222802.9 申请日: 2010-07-02
公开(公告)号: CN101943712A 公开(公告)日: 2011-01-12
发明(设计)人: R·W.·沃克 申请(专利权)人: 弗卢克公司
主分类号: G01R17/00 分类号: G01R17/00;G01K7/16;G01R27/14
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈松涛;夏青
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 电阻 电桥 架构 方法
【权利要求书】:

1.一种电阻电桥测量电路,配置成耦合到第一电阻器和第二电阻器,所述第一和第二电阻器串联耦合,所述电阻电桥测量电路包括:

耦合到所述第一和第二电阻器的电流源;以及

第一电压测量电路和第二电压测量电路,所述第一电压测量电路配置成测量所述第一电阻器两端的第一电压,所述第二电压测量电路配置成测量所述第二电阻器两端的第二电压,所述第一电压和所述第二电压是基本同时测量的。

2.根据权利要求1所述的电阻电桥,还包括用于从所述第一和第二电压计算比值的微处理器。

3.根据权利要求2所述的电阻电桥,其中,所述比值为电阻比。

4.根据权利要求2所述的电阻电桥,其中,所述微处理器还用于从所述第一电阻器的电阻和所述比值计算所述第二电阻器的电阻。

5.根据权利要求1所述的电阻电桥,其中,所述第一电压测量电路还配置成测量所述第二电阻器两端的第三电压,所述第二电压测量电路还配置成测量所述第一电阻器两端的第四电压。

6.根据权利要求5所述的电阻电桥,还包括微处理器,所述微处理器用于计算所述第一和第四电压的第一平均值以及所述第二和第三电压的第二平均值,并将所述第一和第二平均值转换成比值。

7.根据权利要求5所述的电阻电桥,还包括两个开关,每个开关配置成将每个电压测量电路耦合到所述第一和第二电阻器以及从所述第一和第二电阻器解除每个电压测量电路的耦合。

8.根据权利要求1所述的电阻电桥,其中,在测量所述第一和第二电压时,所述第一电压测量电路和所述第二电压测量电路由彼此电隔离的电源供电。

9.根据权利要求1所述的电阻电桥,其中,所述电流源是可逆的。

10.一种配置成测量传感器电阻器两端的电压的温度计,包括:

微处理器;

第一电压测量电路和第二电压测量电路,所述第一和第二测量电路耦合到所述微处理器;

包括第一电阻器的温度探针,所述第一电阻器配置成与所述传感器电阻器串联耦合;

电流源,被配置成耦合到所述第一电阻器和所述传感器电阻器,所述电流源被配置成向所述第一和传感器电阻器供应电流;以及

第一开关和第二开关,所述第一开关耦合到所述第一测量电路,所述第二开关耦合到所述第二测量电路,每个开关配置成将其对应的电压测量电路耦合到所述第一电阻器和所述传感器电阻器以及将其对应的电压测量电路从所述第一电阻器和所述传感器电阻器解耦。

11.根据权利要求10所述的系统,其中,所述第一电压测量电路配置成在所述第一开关将所述第一电压测量电路耦合到所述第一电阻器时测量所述第一电阻器两端的第一电压,所述第二电压测量电路配置成在所述第二开关将所述第二电压测量电路耦合到所述传感器电阻器时测量所述传感器电阻器两端的第二电压,其中,所述测量是基本同时执行的。

12.根据权利要求11所述的系统,其中,所述微处理器用于使用所述第一电阻器的电阻值和所述第一和第二电压确定所述传感器电阻器的电阻。

13.根据权利要求12所述的系统,其中,所述微处理器还配置成使用所述传感器电阻器的电阻确定所述传感器电阻器的温度。

14.根据权利要求11所述的系统,其中,所述第一电压测量电路和所述第二电压测量电路均包括开关和模拟数字转换器。

15.一种确定电路中电阻的方法,所述电路具有串联耦合的第一电阻器和第二电阻器,所述方法包括:

测量所述第一电阻器两端的第一电压;

测量所述第二电阻器两端的第二电压;所述第一电压是独立于所述第二电压并与其基本同时测量的,其中,所述第一电压是由第一测量电路测量的,所述第二电压是由与所述第一测量电路不同的第二测量电路测量的;以及

从所述第一电压和所述第二电压计算比值,并使用所述比值和所述第一电阻器的电阻确定所述第二电阻器的电阻。

16.根据权利要求15所述的方法,其中,所述第一测量电路测量所述第二电阻器两端的第三电压,所述第二测量电路测量所述第一电阻器两端的第四电压。

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