[发明专利]一种IBIS模型验证方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及电子、通信领域，具体的说，是一种验证数字器件IBIS模型质量的方法和系统。

背景技术

在电子通信行业的高速数字电路研发过程中，经常会使用到信号完整性仿真技术来预测硬件电路性能或者加速调试进度。使用信号完整性仿真技术的前提是获取到准确的器件模型，目前使用最广泛的器件模型是IBIS(I/OBuffer Information Specification，输入/输出缓冲器信息规范)模型，IBIS模型描述器件管脚(输入、输出和IO缓冲器)的行为及电气特性，不涉及器件的底层结构和工艺信息，一般由器件厂商提供。由于IBIS模型的质量参差不齐，不能完全表达出器件的特性，从而导致仿真结果不准确，影响研发进度。需要提供一种方法能够对IBIS模型的质量进行验证，保证信号完整性仿真的结果具有更高的参考价值。

现有的专利文献包括：专利申请号为US2007185699的美国专利“IBIScorrection tool，IBIS correction method，and waveform simulation device’。该专利申请将模型中描述器件电气特性的V-I(电压-电流)曲线和V-T(电压-时间)曲线进行验证，V-I曲线和V-T曲线是模型对器件信号特性的表达。该专利使用区别于器件额定使用电压的另外的电压产生另一条曲线与模型本身的曲线进行对比，查看在两种电压下其V-I曲线的变化是否符合相关的电路原理。如果符合则表示模型准确，如果不符合则表示模型不准确。该方法的缺点在于其验证原理是基于现有模型的数据推导出一组新的数据来验证模型，该方法可以验证出模型中较大的缺陷，但不能对模型细微的精确性方面进行验证。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种IBIS模型验证方法和系统，可以对IBIS模型的质量进行精确的验证。

为了解决上述问题，本发明提供了一种IBIS模型验证方法，包括：

针对器件的待验证模型对应的引脚构建测试电路板，激励该测试电路板，检测其输出的测试波形；

在仿真工具中构建该待验证模型对应的引脚在所述测试电路板上的电路拓扑模型，进行仿真，得到仿真波形；

比较所述仿真波形和所述测试波形，根据比较结果得到模型验证结果。

其中，比较所述仿真波形和所述测试波形的步骤包括：

获取所述仿真波形的若干个特征参数，与所述测试波形的对应特征参数进行比较，得到所述待验证模型各特征参数的准确度，根据各特征参数的准确度进行加权得到所述待验证模型的准确度。

其中，所述特征参数的准确度＝[1-|测试波形特征参数值-仿真波形特征参数值|/测试波形特征参数值]*100％。

其中，所述特征参数包括如下之一或其组合：过冲、电平、上升时间、下降时间和边沿单调性。

其中，所述根据比较结果得到模型验证结果包括：

根据所述待验证模型的准确度与预设的级别评定规则，输出所述待验证模型的级别。

本发明还提供一种IBIS模型验证系统，包括测试波形生成模块、仿真波形生成模块和验证模块，其中：

测试波形生成模块用于：针对器件的待验证模型对应的引脚构建测试电路板，激励该测试电路板，检测其输出的测试波形；

仿真波形生成模块用于：在仿真工具中构建该待验证模型对应的引脚在所述测试电路板上的电路拓扑模型，进行仿真，得到仿真波形；

验证模块用于：比较所述仿真波形和所述测试波形，根据比较结果得到模型验证结果。

其中，所述验证模块包括特征参数获取单元，准确度生成单元和验证单元，其中：

所述特征参数获取单元用于：获取所述仿真波形和所述测试波形的若干个特征参数；

所述准确度生成单元用于：将所述仿真波形的各特征参数与所述测试波形的对应特征参数进行比较，得到所述待验证模型各特征参数的准确度，根据各特征参数的准确度进行加权得到所述待验证模型的准确度；

所述验证单元用于：根据所述准确度得到模型验证结果。

其中，所述特征参数的准确度＝[1-|测试波形特征参数值-仿真波形特征参数值|/测试波形特征参数值]*100％。

其中，所述特征参数包括如下之一或其组合：过冲、电平、上升时间、下降时间和边沿单调性。

其中，所述验证单元是用于：根据所述待验证模型的准确度与预设的级别评定规则，输出所述待验证模型的级别。