[发明专利]光学参数测量装置及静态消光比的测量方法

权利要求书

1.一种光学参数测量装置，其包括一个激光器、一个起偏器、一个用于安装待测光学元件的工装、一个检偏器、一个光电传感器件，其特征在于，所述光学参数测量装置还包括一个具有多个滑动座的导轨，所述激光器、起偏器、工装、检偏器、光电传感器件中的至少一个设置在所述滑动座上。

2.根据权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述光学参数测量装置还包括一个扩束镜和一个缩束镜，所述激光器、起偏器、扩束镜、工装、缩束镜、检偏器、光电传感器件沿光路依序设置。

3.根据权利要求2所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述光学参数测量装置还包括一个可调口径的光阑，其设置在所述扩束镜和工装之间。

4.根据权利要求2所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述光学参数测量装置还包括一个衰减片，其设置在所述激光器和起偏器之间。

5.根据权利要求1所述的光学参数测量装置，其特征在于，所述光学参数测量装置可分别使所述待测光学元件和检偏器独立地绕光轴旋转。

6.一种采用如权利要求1所述光学参数测量装置测量静态消光比的测量方法，其包括如下步骤：

安装待测光学元件之前，旋转所述检偏器，使所述起偏器和所述检偏器的偏振方向垂直；

安装待测光学元件，旋转所述待测光学元件，通过所述光电传感器件找出功率最大值Pmax、功率最小值Pmin；

根据所述Pmax和Pmin计算所述待测光学元件的静态消光比Ex。

7.根据权利要求6所述的静态消光比的测量方法，其特征在于，根据方程EX＝10lg(Pmax/Pmin)来计算静态消光比。

8.根据权利要求6所述的静态消光比的测量方法，其特征在于，所述方法是用于测量偏光片、或者1/2波片、或者PBS晶体的静态消光比。