[发明专利]光学显示装置的制造系统及光学显示装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 201010228926.8 申请日: 2008-12-24
公开(公告)号: CN101893782A 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 北田和生;小盐智;中园拓矢;由良友和 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: G02F1/1335 分类号: G02F1/1335
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张宝荣
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 显示装置 制造 系统 方法
【说明书】:

本申请是申请人于2008年12月24日提出的国际申请号PCT/JP2008/073420的、发明名称为光学显示装置的制造系统及光学显示装置的制造方法的国际申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及光学显示装置的制造系统及其制造方法,该光学显示装置具有光学显示单元和贴合于该光学显示单元的规定尺寸的光学部件。

背景技术

目前,公知的有日本特开2007-140046号公报(专利文献1)的制造方法。该制造方法中,从缠卷有具有光学部件的片状制品的辊状卷料将片状制品卷出,且对片状制品的缺欠进行检测,根据该检测结果将片状制品切断并加工成单片片状制品。接着,在将脱模膜剥离后,使光学部件与液晶单元贴合。

另外,公知的有日本特开2005-37416号公报(专利文献2)的制造方法。该制造方法中,通过将片状制品中的脱模膜保留,而切断其它光学部件(例如,偏振片),由该脱模膜而使片状制品的连续性得以维持。而且,是一边将该脱模膜剥离一边经由粘合剂将光学部件与光学显示单元(液晶单元)贴合的方法。

专利文献1:日本特开2007-140046号公报

专利文献2:日本特开2005-37416号公报

在光学部件具有伤痕及污垢等缺欠的情况下,依然直接与液晶单元贴合,就成为光学显示装置的显示品质上问题。因此,在与液晶单元贴合之前,进行光学部件的缺欠检查。

在专利文献1的情况下,由于是将长条的片状制品的所有部件加以切断后的单片状态,因此容易进行缺欠检查,并且由缺欠检查所判定的不合格品可以容易地排除。另一面,如专利文献2,在将片状制品的一部分的部件(例如,脱模膜)保留而将其它部件切断的方法(以下,有时称为半切)的情况下,不容易排除被按不合格品判定的光学部件。即,由于所切断的光学部件经由粘合剂在脱模膜上存在,并且被按合格品判定的光学部件与被按不合格品判定的光学部件相邻接地存在,因此仅将被按不合格品判定的光学部件去除而使其不与液晶单元贴合就非常困难。

发明内容

本发明是鉴于上述的实际情况而发明的,其目的在于,提供一种光学显示装置的制造系统及光学显示装置的制造方法,在将光学部件与光学显示单元贴合时,例如,以将被按不合格品判定的且排除所涉及的光学部件不贴合到光学显示单元的方式,可以恰当将该排除所涉及的光学部件排除。

为了解决所述问题,专心研究重复的结果完成以下的本发明。

本发明提供一种光学显示装置的制造系统,该光学显示装置具有光学显示单元、及贴合于该光学显示单元的规定尺寸的光学部件,

该光学显示装置的制造系统具有:

切断装置,其从具有所述光学部件和设置于该光学部件的脱模膜之长条的层叠光学制品中,以保留该脱模膜的状态将该光学部件切断,而使与所述光学显示单元贴合的规定尺寸的光学部件、及排除所涉及的光学部件在该脱模膜上形成;

剥离装置,其从所述切断装置所形成的所述规定尺寸的光学部件将脱模膜剥离;

贴合装置,其在由所述剥离装置从所述规定尺寸的光学部件将脱模膜剥离的同时、或剥离之后,将该规定尺寸的光学部件贴合于所述光学显示单元;

排除装置,其具备粘合表面,通过在该粘合表面贴合由所述切断装置所形成的且排除所涉及的光学部件,将该排除所涉及的光学部件从脱模膜排除。

根据该构成,将切断装置所形成的且排除所涉及的光学部件从脱模膜恰当地排除,不与光学显示单元贴合,就能够仅将规定尺寸的光学部件与光学显示单元恰当地贴合。可以构成为,在排除之际,将光学部件或脱模膜的端部所附着的缺欠信息(缺欠位置坐标)进行读取(读取装置的功能),对它们进行分析,判别缺欠的位置,将包含缺欠的光学部件进行排除处理。另外,可以构成为,将光学部件的端部所附着的缺欠标记(意味着从附有标记的位置在膜宽方向存在缺欠)进行读取,将包含该标记的光学部件进行排除处理。“粘合表面”可以列举出例如:在辊、带、平面板、弓状板等各自的表面所形成的粘合剂或粘合剂层。

另外,在本发明中,优选排除装置具备缠绕有粘合带的可旋转的排除用辊,在该粘合带的粘合表面贴合由所述切断装置所形成的且排除所涉及的光学部件,而使该排除所涉及的光学部件从所述脱模膜排除。

另外,在本发明中,优选还具有用于进行所述层叠光学制品的缺欠检查的检查装置,所述规定尺寸的光学部件是通过所述检查装置的缺欠检查被按合格品判定的光学部件,所述排除所涉及的光学部件是通过所述检查装置的缺欠检查被按不合格品判定的光学部件。

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