[发明专利]卡匣校正系统及其方法

说明书

技术领域

本发明关于一种卡匣校正系统及其方法，尤指一种可自动校正卡匣的卡匣校正系统及其方法。

背景技术

一般而言，晶片厂或面板厂大多利用卡匣来承载玻璃基板。为了避免玻璃基板在存取的过程中因卡匣变形过大而造成破片，生产线需要先检验卡匣是否有变形。目前，卡匣的校正大多依靠作业人利用手动量测工具进行检验。在检验出某一个卡匣为不良品后，再由作业人员针对不良处加以调校。之后，经手动量测工具确认为良品后，再投入生产系统中。然而，上述流程需花费不少资源，如人力、校正占地及良品/不良品多次判定作业事宜，造成人力及系统资源浪费。

发明内容

因此，本发明的目的之一在于提供一种可自动校正卡匣的卡匣校正系统及其方法，以解决上述问题。

根据一实施例，本发明的卡匣校正系统包含一基座、一感测装置、一影像撷取装置、一扭矩调整装置以及一数据处理装置。基座具有一开口。感测装置可移动地设置在基座的开口中。影像撷取装置可移动地设置在基座的一第一侧。扭矩调整装置可移动地设置在基座的一第二侧，且第二侧与第一侧相对。数据处理装置有线或无线连接于感测装置、影像撷取装置以及扭矩调整装置。

于此实施例中，影像撷取装置包含一第一升降平台以及N个影像撷取单元，N为正整数。N个影像撷取单元并行排列于第一升降平台上，且第一升降平台可带动N个影像撷取单元相对基座的第一侧上下移动。扭矩调整装置包含一第二升降平台以及N个扭矩调整单元。N个扭矩调整单元并行排列于第二升降平台上，且第二升降平台可带动N个扭矩调整单元相对基座的第二侧上下移动。每一个扭矩调整单元分别对应一个影像撷取单元。每一个扭矩调整单元包含P个调整件，P为正整数。感测装置包含一第三升降平台、2N个转动件以及6N×M个感测单元，M为正整数。2N个转动件可转动地设置在第三升降平台上，在每一个转动件上设置3M个感测单元，且第三升降平台可带动2N个转动件以及6N×M个感测单元相对基座上下移动。每二个转动件分别对应一个扭矩调整单元与一个影像撷取单元。

根据另一实施例，本发明的卡匣校正方法用以校正一卡匣。卡匣包含一框架、N×M个支撑件以及N×M×P个扭矩固定件。N×M个支撑件排列成M列，每一列包含N个并行排列的支撑件，且每一个支撑件分别利用P个扭矩固定件固定于框架上，N、M与P皆为正整数。

本发明的卡匣校正方法包含下列步骤：(a)将卡匣放置于一基座上；(b)利用一影像撷取装置撷取对应N×M个支撑件的N×M个影像；(c)比对一标准样版与每一个影像中的一第一实际样版，以判断每一个支撑件是否需被校正，当N×M个支撑件中的Q个支撑件需被校正时，进行步骤(d)，Q为小于或等于N×M的正整数，当N×M个支撑件中的Q个支撑件不需被校正时，则将卡匣自基座上移离或载出，并针对另一卡匣重复进行步骤(a)；(d)利用一感测装置感测对应Q个支撑件中的第u个支撑件的一第一垂直斜率Sx1、一第二垂直斜率Sx2以及一水平斜率Sy，u为小于或等于Q的正整数；(e)根据第一垂直斜率Sx1、第二垂直斜率Sx2以及水平斜率Sy，计算对应P个扭矩固定件的P个权重斜率Sw，并以Sw_v表示P个权重斜率中的第v个权重斜率，v为小于或等于P的正整数；(f)查询一对照表，以得到对应P个权重斜率Sw的P个调整参数，对照表记录多个权重斜率以及多个调整参数，每一个权重斜率分别对应一个调整参数；以及(g)根据P个调整参数，利用一扭矩调整装置分别调整P个扭矩固定件。

综上所述，根据本发明的卡匣校正系统及其方法，当卡匣放置于基座上时，数据处理装置即会控制感测装置、影像撷取装置以及扭矩调整装置自动对卡匣进行校正。这样，不仅可节省人力及系统资源，亦可缩短量测、校正时间。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为根据本发明一实施例的卡匣校正系统的示意图；

图2为卡匣3的立体图；

图3为图2中的卡匣的后视图；

图4为根据本发明一实施例的卡匣校正方法的流程图；

图5为图2中的卡匣放置在图1中的卡匣校正系统的基座上的示意图；

图6A为对应一个支撑件的影像的水平偏移量示意图；

图6B为对应一个支撑件的影像的垂直偏移量示意图；

图7A为一个支撑件与对应的第一转动件或第二转动件的前视图；

图7B为一个支撑件与对应的第一转动件及第二转动件的侧视图；

图8为根据本发明一实施例的对照表的示意图。

其中，附图标记