[发明专利]一种电路问题设计布图定位调整的方法

权利要求书

1.一种电路问题设计布图定位调整的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

根据电路分析建立布图问题对电路性能的影响趋势表；

对模拟集成电路的前仿真波形和后仿真波形进行比较分析，确定模拟集成电路的问题波形；

根据所述问题波形定位影响所述模拟集成电路性能的问题寄生RLC问题序列；

根据所述问题寄生RLC问题序列确定问题寄生RLC的位置；

根据所述问题寄生RLC的位置确定问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接；

根据所述问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接确定问题设计布图；

根据所述布图问题对电路性能的影响趋势表调整所述问题设计布图。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述布图问题对电路性能的影响趋势表具体包括：

匹配器件的布局失配对电路性能的影响趋势表，匹配线网的布线失配对电路性能的影响趋势表，物理保护缺陷对电路性能的影响趋势表，器件之间间距缺陷对电路性能的影响趋势表，线网寄生电阻对电路性能的影响趋势表，线网寄生电容对电路性能的影响趋势表以及线网寄生电感对电路性能的影响趋势表。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对模拟集成电路的前仿真波形和后仿真波形进行比较和分析，确定模拟集成电路问题波形的步骤具体包括：

指定模拟集成电路波形值的误差范围；

确定前仿真电路网表节点在后仿真电路网表中的对应节点；

对所述前仿真电路网表节点和对应后仿真电路网表节点的直流分析结果、瞬态分析结果以及交流分析结果比较分析，找出直流分析、瞬态分析以及交流分析超出指定误差范围的节点并分别记录各自计算该节点的直流分析条件、瞬态分析条件以及交流分析条件；

将所述超出指定误差范围的节点标记为问题节点，该问题节点处的波形即为问题波形。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述问题波形定位影响所述模拟集成电路性能的问题寄生RLC问题序列具体包括：

根据模拟集成电路性能和目标性能之间的偏差，利用所述线网寄生电阻对电路性能的影响趋势表，确定影响所述模拟集成电路性能的寄生电阻问题序列；

根据模拟集成电路性能和目标性能之间的偏差，利用所述线网寄生电容对电路性能的影响趋势表，确定影响所述模拟集成电路性能的寄生电容问题序列；

根据模拟集成电路性能和目标性能之间的偏差，利用所述线网寄生电感对电路性能的影响趋势表，确定影响所述模拟集成电路性能的寄生电感问题序列。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述问题寄生RLC问题序列，确定问题寄生RLC的位置具体包括：

根据寄生电阻在物理版图上的位置以及所述寄生电阻问题序列，确定问题寄生电阻在物理版图上的位置；

根据寄生电容在物理版图上的位置以及所述寄生电容问题序列，确定问题寄生电容在物理版图上的位置；

根据寄生电感在物理版图上的位置以及所述寄生电感问题序列，确定问题寄生电感在物理版图上的位置。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述问题寄生RLC的位置确定问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接的步骤具体包括：

根据所述问题寄生RLC的位置，确定问题寄生RLC连接的节点；

根据所述问题寄生RLC连接的节点，确定问题寄生RLC连接的器件；

根据所述问题寄生RLC连接的节点，确定问题寄生RLC连接对应的物理连接。