[发明专利]电子元器件的物理应力自动测量系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子产品设计领域，尤其涉及一种电子产品中电子元器件的物理应力自动测量系统及方法。

背景技术

在电子产品的研发设计阶段，电子产品的各个元器件的耐用性与可靠度等因素的考量，对于电子产品的品质保证是极其重要的。耐用性与可靠度的考量是通过对电子元器件的物理应力(stress)的测量实现的。所述的物理应力是指物理量，如电压、电流、磁通量、温度、压力、及震动形变等，作用在某个元器件上的变动范围。例如，众所周知，温差的产生可能导致爆炸，当某个元器件上温度的变动所产生温差超过了一个额定值时，就可能导致该元器件爆炸。又如，电压差的形成产生电流，当某个元器件上两个引脚的电压差过大，导致通过该元器件的电流超过一个额定值时，则会烧毁该元器件。这些都会影响电子产品的耐用性与可靠度。

目前，对于电子元器件的物理应力的测量主要是由研发工程师进行人工审核与检验。然而，就一个服务器的主板而言，仅仅是电容、电阻、与电感这三类元器件的数量就有上千个。由此可知，若采用人工作业的方式，是非常费时费力的，将导致效率降低，成本提高，且延长了产品的研发时程。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提出一种电子元器件的物理应力自动测量系统，其可以利用机器设备自动完成各种物理应力的测量。

此外，还有必要提出一种电子元器件的物理应力自动测量方法，其可以利用机器设备自动完成各种物理应力的测量。

所述的电子元器件的物理应力自动测量方法包括：(a)获取电子元器件上测量点的坐标矩阵；(b)根据上述坐标矩阵，确定电子元器件上当前需要测量的测量点，并控制一个测量机台的机械手臂运动到该测量点所处的位置；(c)获取每个电子元器件所需测量的物理应力的种类的数据；(d)根据上述每个电子元器件所需测量的物理应力的种类，确定当前测量点当前所需测量的物理应力；(e)根据上述确定的当前所需测量的物理应力，控制上述测量机台切换到与该种物理应力相匹配的物理应力测量仪和探头；(f)利用上述物理应力测量仪及探头对当前测量点进行物理应力的测量，得到一个物理应力的测量值；(g)将上述得到的物理应力的测量值与该物理应力的标准规格的矩阵相比较，以判断该物理应力是否通过了测量；及(h)生成测量报告，以输出结果显示该物理应力是否通过了测量。

所述的电子元器件的物理应力自动测量系统包括通讯连接的测量控制设备及测量机台。所述的测量机台包括：与测量平台连接的机械手臂；多种物理应力测量仪；及安装在机械手臂末端的多对探头，其中每对探头与上述多种物理应力测量仪中的其中一种相匹配。所述的测量控制设备用于控制上述机械手臂移动至电子元器件上各个测量点的位置，并控制所述物理应力测量仪及探头测量该电子元器件的各种物理应力。

利用本发明所提供的电子元器件的物理应力自动测量系统及方法，只需要测量工程师向系统中输入需要测量的电子元器件的基本资料，就可以自动对各个电子元器件的各项物理应力进行测量，极大地减少了人力、工作量与时间的耗费。

附图说明

图1是本发明电子元器件的物理应力自动测量系统较佳实施例的硬件架构图。

图2是图1中测量控制设备的功能模块图。

图3是本发明电子元器件的物理应力自动测量方法较佳实施例的实施流程图。

主要元件符号说明