[发明专利]一种图像传感器的检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201010230267.1 申请日: 2010-07-15
公开(公告)号: CN101895786A 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 张荣祥;王鹏;贾永华;胡扬忠;邬伟琪 申请(专利权)人: 杭州海康威视软件有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N5/217
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 逯长明;王宝筠
地址: 310012*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 图像传感器 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种图像传感器的检测方法,其特征在于,包括:

步骤A:获取图像传感器采集的匹配当前曝光配置参数的曝光图像,所述当前曝光配置参数为预置的至少两组曝光配置参数中的任意一组;

步骤B:对所述曝光图像进行坏点检测,得到初始坏点集合;

步骤C:触发图像传感器继续采集匹配所述当前曝光配置参数的曝光图像,对每次采集的曝光图像中对应所述初始坏点集合中各个坏点的位置进行验证并记录验证结果,当曝光图像的帧数达到预设帧数时,对各帧曝光图像的验证结果进行分析以得到与所述当前曝光配置参数匹配的最终坏点信息;

步骤D:以未进行曝光图像采集的任一组曝光配置参数为当前曝光配置参数,返回步骤A,直至每一组曝光配置参数对应的最终坏点信息全部确认完毕,合并所有最终坏点信息以得到所述图像传感器的坏点。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤B具体包括:

步骤B1:读取所述曝光图像中所有像素点的亮度值和位置信息;

步骤B2:判断当前检测类别是否为亮坏点,如果是,则进入步骤B3,如果不是,则进入步骤B4;

步骤B3:依次判断各个像素点的亮度值是否大于预置的第一异常检测阈值,如果是,则将当前像素点对应的位置信息添加至所述初始坏点集合中;

步骤B4:依次判断各个像素点位置的亮度值是否小于预置的第二异常检测阈值,如果是,则将当前像素点对应的位置信息添加至所述初始坏点集合中。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,当检测类别为亮坏点时,所述步骤C中对每次采集的曝光图像中对应所述初始坏点集合中各个坏点的位置进行验证并记录验证结果,具体包括:

步骤C1:依据所述初始坏点集合中各个坏点的位置定位所述曝光图像中的对应位置;

步骤C2:获取所述对应位置的亮度值,并判断所述亮度值是否大于预置的第一异常确认阈值;如果是,则进入步骤C3;

步骤C3:对与所述对应位置匹配的初始坏点对应的确认寄存器进行累加。

4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,当检测类别为暗坏点时,所述步骤C中对每次采集的曝光图像中对应所述初始坏点集合中各个坏点的位置进行验证并记录验证结果,具体包括:

步骤C4:依据所述初始坏点集合中各个坏点的位置定位所述曝光图像中的对应位置;

步骤C5:获取所述对应位置的亮度值,并判断所述亮度值是否小于预置的第二异常确认阈值;如果是,则进入步骤C6;

步骤C6:对与所述对应位置匹配的初始坏点对应的确认寄存器进行累加。

5.如权利要求3或4任一项所述的方法,其特征在于,所述步骤C中对各帧曝光图像的验证结果进行分析以得到与所述当前曝光配置参数匹配的最终坏点信息,具体包括:

步骤C7:获取所述初始坏点集合中各个坏点对应的确认寄存器值和所述预设帧数的比值;

步骤C8:依次判断所述各个比值是否大于预置的置信度阈值,如果不是,则将对应的坏点在初始坏点集合中删除;

步骤C9:将更新后的初始坏点集合作为当前曝光配置参数下的最终坏点信息。

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述曝光配置参数具体包括:曝光增益、曝光快门时间和/或光圈大小。

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤D之后,还包括:

步骤E:将所述图像传感器的坏点按照亮度值或者位置信息依次进行排序。

8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述步骤B之后还包括:

将所述初始坏点集合采用坏点表进行存储。

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