[发明专利]用于测定织构表面的属性的方法和装置

权利要求书

1.一种测定织构表面的属性的方法，其特征在于，包括以下步骤：

照射射线到被研究的所述表面(10)；

通过检测器装置(4)检测至少部分照射到所述表面(10)和由所述表面(10)反射的射线，所述检测器装置(4)允许对照到它的射线进行定位评价；

从检测的射线测定第一特征值(P)，其中，所述第一特征值(P)是所述表面(10)的织构的特征；

从检测的射线测定第二特征值(ΔE)，其中，所述第二特征值(ΔE)是所述表面(10)的附加光学属性的特征；

在所述第一特征值(P)和所述第二特征值(ΔE)的基础上测定结果值(ΔI)。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在使用所述第一特征值(P)及使用至少一个所述表面(10)事前已知或经测定的附加属性时，测定作为所述表面(10)的特征的参数。

3.根据至少一项前述权利要求所述的方法，其特征在于，所述结果值(ΔI)在存储的多个描述所述表面(10)的光学属性的数据的基础上测定。

4.根据至少一项前述权利要求所述的方法，其特征在于，至少一个附加特征值(ΔG)用于测定所述结果值(ΔI)，所述附加特征值(ΔG)是所述表面(10)的光学属性的特征。

5.根据至少一项前述权利要求所述的方法，其特征在于，至少一个特征值选自包括表面颜色、表面亮度、表面发光度、表面织构等的特征值组。

6.根据至少一项前述权利要求所述的方法，其特征在于，至少一个特征值(P、ΔE)是通过比较生成的相对值。

7.根据至少一项前述权利要求所述的方法，其特征在于，所述第二特征值(ΔE)在多个要素(ΔL、Δa、Δb)的基础上生成，其中，至少一个所述要素(ΔL)是所述表面(10)的亮度的特征。

8.根据至少一项前述权利要求所述的方法，其特征在于，至少一个所述要素(ΔL、Δa、Δb)是所述表面(10)的颜色的特征。

9.根据至少一项前述权利要求所述的方法，其特征在于，对所述个体要素特征值进行加权。

10.一种用于测定表面(10)的光学属性的装置，包括定向射线到被研究的表面(10)的第一辐射装置(2)，和检测从所述辐射装置(2)定向到所述表面(10)和从所述表面(10)反射的射线的检测器装置(4)，其中，所述检测器装置(4)允许对照到所述表面的射线进行定位评价，并在检测的射线的基础上发出至少一个第一特征值(ΔP)和一个第二特征值(ΔE)，所述第一特征值(ΔP)是织构的特征，所述第二特征值(ΔE)是所述表面(10)的附加光学属性的特征，其特征在于，所述装置具有处理器装置(12)，其在所述第一特征值(ΔP)和所述第二特征值(ΔE)的基础上测定作为所述表面的特征的结果值(ΔI)。

11.根据权利要求10所述装置(1)，其特征在于，所述装置(1)具有存储器装置，其中存储有用于测定至少所述第一特征值(ΔP)或所述第二特征值(ΔE)时作为比较值的参考值。

12.根据权利要求10所述装置(1)，其特征在于，所述装置(1)具有存储器装置(14)，其中存储有事前已知的作为所述表面(10)的属性的特征值。

13.根据至少一项前述权利要求所述装置(1)，其特征在于，所述装置(1)具有用于测定所述装置(1)相对所述表面(10)走过的路径的距离测量装置。