[发明专利]一种光发射信号质量测试方法和系统有效
| 申请号： | 201010234008.6 | 申请日： | 2010-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN102340348A | 公开（公告）日： | 2012-02-01 |
| 发明（设计）人： | 李蒙 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/08 | 分类号： | H04B10/08 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 解婷婷;龙洪 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 发射 信号 质量 测试 方法 系统 | ||
1.一种光发射信号质量测试方法，所述方法包括：
相位调制光收发合一模块接收信号，输出光信号至检测模块；
检测模块对输入的光信号进行相干检测，对相干检测后的信号进行相位信息检测；
根据所述检测模块检测到的相位信息计算误差矢量幅度(EVM)值；
根据所述EVM值衡量所述相位调制光收发合一模块发射的光信号的质量。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：
所述相位信息包括每个相干检测后的信号的同相位矢量和正交相位矢量。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：所述根据相位信息计算EVM值的步骤包括：
根据每个相干检测后的信号的同相位矢量和正交相位矢量，以及预先设定的理想同相位矢量和理想正交相位矢量，计算每个相干检测后的信号的误差矢量的模；
根据所有相干检测后的信号的误差矢量的模计算EVM。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于：
所述误差矢量的模通过下式计算：其中，ek为第k个相干检测后的信号的误差矢量的模，Ik为第k个相干检测后的信号的理想同相位矢量，Qk为第k个相干检测后的信号的理想正交相位矢量，为第k个相干检测后的信号的同相位矢量，为第k个相干检测后的信号的正交相位矢量。
5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于：
根据所述误差矢量的模计算EVM的步骤包括：通过以下公式计算EVM：
其中，N为相干检测后的信号的总数；ek为第k个相干检测后的信号的误差矢量的模，1≤k≤N。
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