[发明专利]一种靶弹装配检测系统及方法

权利要求书

1.一种靶弹装配检测系统，其特征在于，包括示波器、PIN调制器、压控振荡器、功率放大器、环形器、检波头、微波暗室和天线。

其中，所述示波器要求内置有方波信号发生器；

所述功率放大器要求其增益大于等于20dBm；

所述环形器要求其2端口和3端口之间的隔离度大于等于22dB；

所述微波暗室结构为立方体，其中，在暗室的一个面上开有一个天线安装口；在天线安装口对称的另一面上开有靶弹头部放置口，其直径要与所测靶弹的最大直径相同；所述天线安装口要与靶弹头部放置口处于同一轴线上，使天线波束中心对准靶弹的轴心；在微波暗室的内壁表面吸附一层吸波材料，吸波材料的材质和厚度要求满足当压控振荡器输出的单频信号频率为2.1G，其正向吸波损耗小于等于35dB；微波暗室带有安装口的截面积尺寸要求不大于3m×3m，同时不小于1m×1m；

其连接关系为：

示波器的方波输出端与PIN调制器的调制信号输入端口相连，压控振荡器与PIN调制器的载波输入端口相连；PIN调制器的输出端同功率放大器的输入端相连，功率放大器的输出端同环形器的1端口相连，环形器的2端口与天线相连，环形器的3端口与检波头相连；检波头的输出端与示波器的信号输入端相连；天线从天线安装口处伸入到微波暗室内。

2.如权利要求1所述的一种靶弹装配检测系统，其特征在于，所述天线波束中心到龙伯球的距离为1m。

3.一种靶弹装配检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

首先，将被测靶弹伸入微波暗室的靶弹安放口；

然后，启动检测系统，示波器向PIN调制器中输出一个方波；同时，压控振荡器向PIN调制器输入一个单频信号，PIN调制器用方波对该单频信号进行调制，并输出一个调幅信号；

之后，功率放大器对该调幅信号进行放大；经放大后的调幅信号经环形器输入到天线处进行发射；在微波暗室内，由天线发出的调幅波将被靶弹内的龙伯球反射回来，并被天线接收后，由环形器输入到检波头处进行幅度检测，检测结果输入到示波器进行显示，从而得到反应该被测靶弹中龙伯球位置的示波器输出电平；

随后，查看该示波器输出电平是否在160～195mV范围之内，如果在，则认定龙伯球位置安放正确，即，其正向对准了靶弹头部；如果该电平等于范围临界值或者在上述范围之外，则认为龙伯球位置安放不正确。

4.根据权利要求3所述的一种靶弹装配检测方法，其特征在于，所述压控振荡器向PIN调制器输入一个单频信号的频率为2.1GHz。

5.一种如权利要求3所述的一种靶弹装配检测方法，其特征在于，所述示波器向PIN调制器中输出方波的频率范围为0.5-2KHz。