[发明专利]一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件的系统

权利要求书

1.一种通过X射线辐射自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10)，包括具有X射线装置(24，25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入/出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)，其中所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和安装在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18)，所述X射线装置(24，25)被设置在所述转子(18)上，所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12)，以及所述控制/评估单元(14)被设置用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号。

2.根据权利要求1的系统，其中所述保护舱(15)以基本气密的方式密封而与周围环境隔开。

3.根据权利要求1或者2的系统，包括管道(43)，其延伸通过所述转子(18)并限定传送通道(46)。

4.根据权利要求3的系统，其中所述管道(43)以气密方式连至所述保护舱(15)。

5.根据权利要求1的系统，包括用于冷却所述保护舱(15)的内部的冷却单元(46)。

6.根据权利要求1的系统，包括用于对所述保护舱(15)加压的部件(47，48)。

7.根据权利要求1的系统，其中所述保护舱(15)被设置为屏蔽周围环境不受X射线辐射的影响。

8.根据权利要求1的系统，其中所述控制/评估单元(14)被设置为根据待测试或者测量的元件(12)的类型单独调节所述系统(10)的运行参数。

9.根据权利要求1的系统，其中所述控制/评估单元(14)被设置为自动识别材料缺陷，所述缺陷例如为在基本均匀的材料中的气体杂质、多孔性或者较高密度的材料杂质。

10.根据权利要求1的系统，其中所述系统被设置为获得小于或者等于1mm的X射线图像分辨率。

11.根据权利要求1的系统，其中所述传送装置(13)被设置为在所述测试/测量装置(11)区域中以基本恒定的前进速度传送所述元件(12)。

12.根据权利要求1的系统，其中所述传送装置(13)包括被无间断地引导通过所述测试/测量装置(11)的传送带(34)。

13.根据权利要求1的系统，其中所述传送装置(13)在所述测试/测量装置(11)区域可调节高度。

14.根据权利要求1的系统，其中以至少80kV的电压运行所述X射线源(24)。

15.根据权利要求1的系统，其中以至少1kW的连续功率运行所述X射线源(24)。