[发明专利]记录设备和调整激光功率的方法

说明书

技术领域

本发明涉及记录设备和调整激光功率的方法。

背景技术

最优化记录激光功率对诸如一次写入光盘和可重写光盘之类的可记录介质是必要的。该最优化处理被称为最优功率控制(OPC)，并且由此提出了多种方法。

通常，在数据被记录在光盘上之前，光盘经历OPC。例如，测试数据被用不同的激光功率记录在光盘的预定测试区域。被记录区域被再生，并且再生信号的评估值被检测。该评估值可包括β值、调制因子、摇摆、不对称性以及符号错误率。

哪个激光功率提供最优质量的再生信号基于评估值被确定。从而，最优激光功率被确定。

还可在记录期间执行OPC。

日本未审查专利申请特开2005-259312号公报和特开2005-293689号公报公开了与随机OPC(running OPC)相关的技术。

日本未审查专利申请特开2008-77714号公报和特开2006-120281号公报公开了与步进式OPC(walking OPC)相关的技术。

发明内容

现有技术OPC基于评估值不随从记录到读出经过的时间而变化这样的假定被执行。

但是，伴随着最近为满足高速数据处理的需要而开发的高灵敏光盘的增多，在某些光盘中，评估值可能在记录期间变化。

图9示出了评估值β随着从记录到再生经过的时间发生的示例性变化。

β值从下述公式中获得：β＝(Ip+Ib)/(Ip-Ib)，其中Ip是再生RF信号的峰值，而Ib是底值。

在图9A中，纵轴代表β值，而横轴代表从记录到再生所经过的时间【毫秒】。

在OPC会话期间，数据在被记录后立即被再生，并且评估值被测得。

从记录到再生所经过的时间与上述所经过的时间相对应。

要测得的β值如图9A所示地随经过的时间变化。

通常，例如，从记录到再生所经过的时间是20毫秒，包括从记录结束的位置到数据被再生的位置(例如，记录开始的位置)的查找时间(seek time)。

但是，实际上，例如，因为由于干扰所致的查找时间变化和伺服重试的发生，从记录到再生所经过的时间不是固定的。当伺服重试发生时，所经过的时间可能是50毫秒到100毫秒，甚至150毫秒或更长。

结果，根据图9A中示出的特征，与确定的激光功率相对应的β值随着从记录到再生所经过的时间而变化。

例如，目标β值为5％。

如图9B所示，如果从记录到再生所经过的时间是20毫秒，则记录激光功率为7毫瓦时，β值变为5％。

如果从记录到再生所经过的时间是50毫秒，则记录激光功率为8.5毫瓦时，β值变为5％。

虽然最优记录激光功率是在β值等于目标β值的情况下确定的，但是，将被确定的最优记录激光功率可能随经过的时间变化。

即，所确定的激光功率可能随着从记录到再生所经过的时间变化，其对于每个OPC会话是不同的。结果，OPC会话被不恰当地执行。

虽然示出了β值，但是，在最近的高灵敏光盘中，其他诸如调制因子和抖动之类的评估值也随着经过的时间变化。

因此，希望能够恰当地执行OPC会话，而不论评估值随经过的时间发生的变化如何。

根据本发明一个实施例的一种记录设备，包括：光学头部件，用于利用激光照射记录介质以记录和再生信息；激光驱动部件，用于驱动所述光学头部件输出激光；以及控制部件，用于在调整从所述光学头部件输出的记录激光功率的处理中，获得从数据被记录时起经过预定时段之后记录区域的评估值，作为关于在所记录数据的再生期间的再生信号的评估值，并且基于从数据被记录时起经过预定时段之后的评估值来调整记录激光功率。

所述控制部件致使所述光学头部件和所述激光驱动部件在所述记录介质上执行测试记录，并且紧接其后，再生测试记录执行区域；并且所述控制部件，通过根据从测试记录到再生所经过的时间来校正从再生期间的再生信号获得的评估值，以获得所述从数据被记录时起经过预定时段之后的评估值。

可替换地，所述控制部件致使所述光学头部件和所述激光驱动部件在所述记录介质上执行测试记录，并且，在预定等待时间之后，再生测试记录执行区域来获得所述从数据被记录时起经过预定时段之后的评估值，作为从再生期间的再生信号获得的评估值。