[发明专利]主板测试支架

说明书

技术领域

本发明涉及一种主板测试支架。

背景技术

随着电脑运算速度的不断加快，作为电脑核心部件CPU的功耗也越来越大，相对应电脑CPU散热要求也越来越高，而更高的散热要求使得CPU散热器越做越大，重量也随之加重。在计算机主机板的研发和制造阶段，需要单独对主板进行信号完整性、功能型、可靠性等一系列的测试，此时主板没有固定在机箱内，而是用一些螺柱加以支撑，此时过重的CPU散热器会把主机板压弯造成PCB形变，进而造成PCB内信号走线发生形变或断裂。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种主板测试支架，以支撑主板以防止主板在测试时被压弯变形。

一种主板测试支架，用于支撑一待测主板，所述主板测试支架包括一框架、一第一辅助支撑件及一第二辅助支撑件，所述框架包括一前壁、一后壁及两侧壁，所述前壁、后壁及两侧壁围成一收容区，所述第一及第二辅助支撑件设置在所述前壁与所述后壁之间，所述第一及第二辅助支撑件的两端分别固定在所述前壁及后壁的内侧，所述第一及第二辅助支撑件的上表面与所述框架的前壁、后壁及两侧壁的上表面在同一平面，所述第一及第二辅助支撑件及所述框架上均设有对应所述待测主板上的通孔的螺孔以使螺柱可以穿过所述待测主板上的通孔及所述主板测试支架上的螺孔来固定并支撑所述待测主板。

本发明主板测试支架包括所述框架、所述第一辅助支撑件及第二辅助支撑件，当所述待测主板进行测试时通过所述框架、所述第一及第二辅助支撑件可以对所述待测主板进行有效地支撑，从而防止了所述待测主板在测试时被压弯变形。

附图说明

下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：

图1是本发明主板测试支架第一较佳较佳实施方式的示意图。

图2是图1主板测试支架支撑的待测主板的示意图。

图3是图1主板测试支架支撑待测主板的示意图。

图4是本发明主板测试支架第二较佳较佳实施方式的示意图。

主要元件符号说明

待测主板          1

第一列通孔        2

第二列通孔        3

第三列通孔        4

第四列通孔        5

公头螺柱          6

母头螺柱          7

滑槽              8

散热元件          9

框架              10

前壁              11

后壁              12

侧壁              13

收容区            14

第一辅助支撑件    20

第二辅助支撑件    30

第一列螺孔      41

第二列螺孔      42

第三列螺孔      43

第四列螺孔      44

层绝缘材料      50

主板测试支架    100

具体实施方式

请参考图1及图2，本发明主板测试支架100用于支撑一待测主板1。所述主板测试支架100第一较佳实施方式包括一框架10、一第一辅助支撑件20及一第二辅助支撑件30。所述框架10、所述第一及第二辅助支撑件20、30是由刚性材料制成的。所述待测主板1的两侧缘处开设有第一及第二列通孔2、3，所述待测主板1还在靠近其一侧缘处开设有平行于其两侧缘的第三及第四列通孔4、5。一散热元件9设置于所述第二列通孔3与所述第四列通孔5之间。