[发明专利]带有辅助测块的孔位置度综合检具有效

专利信息
申请号: 201010240201.0 申请日: 2010-07-29
公开(公告)号: CN101907431A 公开(公告)日: 2010-12-08
发明(设计)人: 李维明;李四娣;周国成 申请(专利权)人: 广东鸿特精密技术股份有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00
代理公司: 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 代理人: 华辉
地址: 526070 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 带有 辅助 位置 综合
【权利要求书】:

1.一种带有辅助测块的孔位置度综合检具,包括有一底座,底座上设置有定位锁紧机构和孔位置度测量机构,其中,所述孔位置度测量机构包括有直孔测量部件和斜孔测量部件,每一直孔测量部件和每一斜孔测量部件分别包括有使用配合的测量套和测杆,其特征在于:所述斜孔测量部件包含有一锥螺纹斜孔测量部件,锥螺纹斜孔测量部件配套设有一辅助测块,辅助测块的一端部与待测工件的锥螺纹斜孔紧配连接,另一端部与锥螺纹斜孔测杆插接配合。

2.根据权利要求1所述的带有辅助测块的孔位置度综合检具,其特征在于:所述直孔测量部件分为底面直孔测量部件和侧面直孔测量部件,其中,所述底面直孔测量部件采用固定式测杆,所述侧面直孔测量部件采用插杆式测杆。

3.根据权利要求1所述的带有辅助测块的孔位置度综合检具,其特征在于:所述斜孔测量部件分为底面斜孔测量部件和侧面斜孔测量部件,底面斜孔测量部件和侧面斜孔测量部件均采用插杆式测杆。

4.根据权利要求3所述的带有辅助测块的孔位置度综合检具,其特征在于:所述底面斜孔测量部件的底面斜孔测杆设置有定位槽,底面斜孔测量套设置有与定位槽滑行卡接配合的销钉。

5.根据权利要求3所述的带有辅助测块的孔位置度综合检具,其特征在于:所述侧面斜孔测量部件的侧面斜孔测杆采用大行程测杆。

6.根据权利要求3所述的带有辅助测块的孔位置度综合检具,其特征在于:所述锥螺纹斜孔测量部件的锥螺纹斜孔测杆设置有与辅助测块插接配合的内孔。

7.根据权利要求1至6任一所述的带有辅助测块的孔位置度综合检具,其特征在于:所述底座上设置有测杆放置架。

8.根据权利要求1所述的带有辅助测块的孔位置度综合检具,其特征在于:所述定位锁紧机构包括有定位部件和锁紧部件,其中,所述定位部件设置有初步定位的粗定位柱和精确定位的定位销组,所述锁紧部件设置有若干个快换夹。

9.根据权利要求8所述的带有辅助测块的孔位置度综合检具,其特征在于:所述定位销组包括有主定位销和次定位销,主定位销和次定位销分别包括有一定位套、一定位销件、及一复位压簧,其中,定位套内部设置有一滑道,定位销件滑动卡接于滑道内且与复位压簧顶抵接触配合由其提供趋于向上的复位动力。

10.根据权利要求8所述的带有辅助测块的孔位置度综合检具,其特征在于:所述底座上设置有垫高块。

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