[发明专利]测量磁头噪声的方法及其系统

权利要求书

1.一种测量磁头噪声的方法，其特征在于，包括：

设置复数个阈值；

施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件；

施加外部时变横向磁场到所述磁头；

放大所述读元件的输出信号以产生放大信号；

过滤所述放大信号以产生过滤信号；

对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值；

测量每一所述使能信号的累计时长；

根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图；及

根据所述幅值时间分布图计算复数个参数，并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述外部时变横向磁场以周期性波形变化。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：所述外部时变磁场以单周期或多周期形式变化。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述计数控制器通过比较所述阈值与所述放大信号的幅值或所述放大信号的包络幅值而产生所述使能信号。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述计数控制器为模拟器件或数字器件。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于：通过计算一时钟信号的周期数来测量每一所述使能信号的累计时长。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述参数包括复数个整个所述幅值时间分布图的特征值或部分所述幅值时间分布图的特征值。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于：所述特征值至少包括峰值、归一化能量、平均值、均方根和信噪比。

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述参数包括整个所述幅值时间分布图的特征值与部分所述幅值时间分布图的特征值之间的关系值。

10.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述参数包括一部分所述幅值时间分布图的特征值与另一部分所述幅值时间分布图的特征值之间的关系值。

11.如权利要求9或10所述的方法，其特征在于：所述特征值至少包括归一化能量和平均值。

12.一种测量磁头噪声的方法，其特征在于，包括：

设置复数个阈值；

施加偏置电流或电压到所述磁头的读元件；

施加外部恒定横向磁场到所述磁头；

放大所述读元件的输出信号以产生放大信号；

过滤所述放大信号以产生过滤信号；

对于每一所述阈值，在预定时间窗口内通过一计数控制器产生使能信号，所述计数控制器的输入信号包括所述过滤信号和所述阈值；

测量每一所述使能信号的累计时长；

根据所述累计时长和所述阈值生成幅值时间分布图；及

根据所述幅值时间分布图计算复数个参数，并通过分析所述参数与预定标准值而判断所述磁头的瑕疵。

13.如权利要求12所述的方法，其特征在于：所述外部恒定横向磁场的磁场强度为零。

14.如权利要求12所述的方法，其特征在于：所述计数控制器通过比较所述阈值与所述放大信号的幅值或所述放大信号的包络幅值而产生所述使能信号。

15.如权利要求12所述的方法，其特征在于：所述计数控制器为模拟器件或数字器件。

16.如权利要求12所述的方法，其特征在于：通过计算一时钟信号的周期数来测量每一所述使能信号的累计时长。

17.如权利要求12所述的方法，其特征在于：所述参数包括复数个整个所述幅值时间分布图的特征值或部分所述幅值时间分布图的特征值。

18.如权利要求17所述的方法，其特征在于：所述特征值至少包括峰值、归一化能量、平均值、均方根和信噪比。

19.如权利要求12所述的方法，其特征在于：所述参数包括整个所述幅值时间分布图的特征值与部分所述幅值时间分布图的特征值之间的关系值。

20.如权利要求12所述的方法，其特征在于：所述参数包括一部分所述幅值时间分布图的特征值与另一部分所述幅值时间分布图的特征值之间的关系值。