[发明专利]半导体单层薄膜反射干涉型光纤温度探头及其传感装置有效

专利信息
申请号: 201010240389.9 申请日: 2010-07-27
公开(公告)号: CN101936786A 公开(公告)日: 2011-01-05
发明(设计)人: 黎敏;李玉林 申请(专利权)人: 武汉光子科技有限公司
主分类号: G01K11/32 分类号: G01K11/32
代理公司: 武汉宇晨专利事务所 42001 代理人: 黄瑞棠
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 半导体 单层 薄膜 反射 干涉 光纤 温度 探头 及其 传感 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体单层薄膜反射干涉型光纤温度探头,其特征在于:

本探头(10)包括光纤(11)、端面(12)和半导体薄膜(13);

在光纤(1)的一端面(12)上镀有单层的半导体薄膜(13)。

2.按权利要求1所述的光纤温度探头,其特征在于:

半导体薄膜(13)是一种折射率和吸收系数均随温度变化而变化的半导体温度敏感材料。

3.一种基于权利要求1所述光纤温度探头的传感装置,其特征在于:

包括光纤温度探头(10)、光源(20)、光分路器(30)、光探测器(40)、后续处理电路(50)和微处理器(60);

光源(20)的输出端与光分路器(30)的输入端连接,光分路器(30)的输出端与光纤温度探头(10)连接,光分路器(30)的返回端与光探测器(40)连接,光探测器(40)、后续处理电路(50)和微处理器(60)前后依次连接。

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