[发明专利]一种测试测试元件摆放方法无效
| 申请号： | 201010242199.0 | 申请日： | 2010-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN101923142A | 公开（公告）日： | 2010-12-22 |
| 发明（设计）人： | 刘方;王林;张柱;吴景霞 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 250014 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测试 元件 摆放 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种测试测试元件摆放方法，其特征在于，方法步骤是在集成电路IC芯片或较大元件底部的PCB板上设置有测试元件预留针脚孔，测试元件的上部与集成电路IC芯片或较大电子元件底部叠加在一起，测试元件的针脚插在测试元件预留针脚孔中，测试元件针脚下端向下露出PCB板，集成电路IC芯片性能测试时，通过露出PCB板的测试元件的针脚连接测试仪器或设备。
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