[发明专利]一种硅藻样品分层氟化的分析方法有效

专利信息
申请号: 201010244436.7 申请日: 2010-08-03
公开(公告)号: CN102156163A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 李铁军;李洪伟;冯连君;张福松;霍卫国 申请(专利权)人: 中国科学院地质与地球物理研究所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N1/28
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 陈小莲;王凤桐
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 硅藻 样品 分层 氟化 分析 方法
【权利要求书】:

1.一种硅藻样品分层氟化的分析方法,该方法包括:(1)将所述硅藻样品颗粒的表层氧去除掉;(2)在真空条件下,用氟化剂对去除了表层氧的硅藻样品颗粒进行完全氟化;(3)将完全氟化生成的O2转化成CO2,并将CO2进行质谱分析,以得到硅藻样品的δ18O‰值,其特征在于,将所述硅藻样品的表层氧去除掉的方法包括:在真空条件下,用氟化剂对硅藻样品颗粒进行预氟化,以硅藻样品颗粒中的二氧化硅计,相对于100摩尔的二氧化硅,预氟化所用氟化剂的用量为40-60摩尔。

2.根据权利要求1所述的分析方法,其中,在预氟化过程中,以硅藻样品颗粒中的二氧化硅计,相对于100摩尔的二氧化硅,氟化剂的用量为45-55摩尔。

3.根据权利要求1或2所述的分析方法,其中,所述预氟化的条件包括:温度为500-600℃,时间为1-3小时。

4.根据权利要求1所述的分析方法,其中,该方法还包括:在预氟化结束后和完全氟化之前,将预氟化产生的O2排空。

5.根据权利要求1所述的分析方法,其中,在完全氟化过程中,以去除了表层氧的硅藻样品颗粒中的二氧化硅计,相对于100摩尔的二氧化硅,氟化剂的用量为200-2500摩尔。

6.根据权利要求5所述的分析方法,其中,在完全氟化过程中,以去除了表层氧的硅藻样品颗粒中的二氧化硅计,相对于100摩尔的二氧化硅,氟化剂的用量为1000-2000摩尔。

7.根据权利要求1、5或6所述的分析方法,其中,所述完全氟化的条件包括:温度为500-600℃,时间为3-5小时。

8.根据权利要求1、2、5或6所述的分析方法,其中,所述氟化剂为BrF5、F2和IF5中的一种或多种。

9.根据权利要求1所述的分析方法,其中,所述硅藻样品的纯度为90重量%以上,硅藻样品颗粒的平均粒子直径为40-100μm。

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