[发明专利]钻石身份特征鉴定方法及系统装置无效
申请号: | 201010247739.4 | 申请日: | 2010-08-09 |
公开(公告)号: | CN102374992A | 公开(公告)日: | 2012-03-14 |
发明(设计)人: | 张耀拓 | 申请(专利权)人: | 张耀拓 |
主分类号: | G01N21/87 | 分类号: | G01N21/87 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 钻石 身份 特征 鉴定 方法 系统 装置 | ||
1.一种基于光学傅立叶变换的钻石身份特征指纹空间频谱分析鉴定方法与系统装置,其特征在于:所述的一种基于光学傅立叶变换的钻石身份特征指纹空间频谱分析鉴定方法采用照明光路、光学傅立叶变换光路与CCD成像光路完全同轴的光学系统设计结构,平行光束正入射照明钻石台面,通过一个透镜对钻石切割面的反射光进行光学傅立叶变换,在透镜的后焦面得到钻石各切割面反射光的空间频谱,然后通过一个CCD成像光路收集钻石切割面反射光的空间频谱图像,输入计算机进行图像存储管理、图像识别与钻石身份特征分析鉴定;所述的系统装置包括光源照明系统、空间频谱生成系统、空间频谱图像采集系统、分析鉴定软件系统等四个部分;所述的系统装置中光源照明系统、空间频谱生成系统、空间频谱图像采集系统在光路结构上是同轴的。
2.如权利要求1所述的一种基于光学傅立叶变换的钻石身份特征指纹空间频谱分析鉴定方法与系统装置,其特征在于:所述光源照明系统至少包括有一光源和一使所述光源变成平行光的透镜。
3.如权利要求1所述的一种基于光学傅立叶变换的钻石身份特征指纹空间频谱分析鉴定方法与系统装置,其特征在于:所述空间频谱生成系统至少包括一透镜或由多个透镜联合组成的透镜组和一接收屏,接收屏位于透镜或透镜组的后焦平面上,钻石切割面的反射光经透镜或透镜组会聚在接收屏上,形成空间频谱图。
4.如权利要求1所述的一种基于光学傅立叶变换的钻石身份特征指纹空间频谱分析鉴定方法与系统装置,其特征在于:所述空间频谱图像采集系统至少包括一CCD探测器或CMOS探测器、一成像透镜或镜头。
5.如权利要求1所述的一种基于光学傅立叶变换的钻石身份特征指纹空间频谱分析鉴定方法与系统装置,其特征在于:所述分析鉴定软件系统包括一计算机和分析应用软件,实现图像存储处理、图像分析比较、数据库信息管理、钻石身份特征分析鉴定等功能。
6.如权利要求1,权利要求2和权利要求3所述的一种基于光学傅立叶变换的钻石身份特征指纹空间频谱分析鉴定方法与系统装置,其特征在于:在所述光源照明系统和所述空间频谱生成系统中,可以共用一个透镜或一个由多个透镜联合组成的透镜组或镜头,实现将光源准直成平行光,并将钻石切割面不同方向的反射光会聚在接收屏上,形成空间频谱图像。
7.如权利要求1和权利要求2所述的一种基于光学傅立叶变换的钻石身份特征指纹空间频谱分析鉴定方法与系统装置,其特征在于:在所述光源照明系统中,可以采用凹面反射镜或透镜聚光在一个小孔光阑上,获得等效点光源,提高钻石照明光束的平行准直特性。
8.一种基于光学傅立叶变换的钻石身份特征指纹空间频谱分析鉴定方法与系统装置,其特征在于:所述的一种基于光学傅立叶变换的钻石身份特征指纹空间频谱分析鉴定方法采用照明光路、傅立叶变换光路与CCD成像光路不完全同轴的光学系统设计结构,平行光束正入射照明钻石台面,通过一个透镜对钻石切割面的反射光进行光学傅立叶变换,在透镜的后焦面得到钻石各切割面反射光的空间频谱,然后通过一个不同轴的CCD成像光路收集钻石切割面反射光的空间频谱图像,输入计算机进行图像存储处理、图像畸变校正、图像识别与钻石身份特征分析鉴定。
9.如权利要求8所述的一种基于光学傅立叶变换的钻石身份特征指纹空间频谱分析鉴定方法与系统装置,其特征在于:所述的系统装置包括光源照明系统、空间频谱生成系统、空间频谱图像采集系统、分析鉴定软件系统等四个部分,在所述的系统装置中空间频谱图像采集系统在光路结构上与光源照明系统和空间频谱生成系统是不同轴的。
10.如权利要求8和权利要求9所述的一种基于光学傅立叶变换的钻石身份特征指纹空间频谱分析鉴定方法与系统装置,其特征在于:所述的空间频谱图像采集系统通过一个反射镜来改变扩大图像采集成像光路的视场角,减少边缘高频成分的畸变,提高钻石身份特征频谱分析鉴定的准确性。
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