[发明专利]包含纹路化基板的装置及形成半导体装置的方法有效

专利信息
申请号: 201010251093.7 申请日: 2010-08-09
公开(公告)号: CN102157669A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 黄信杰 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L33/54 分类号: H01L33/54;H01L33/60;H01L33/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 姜燕;陈晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 包含 纹路 化基板 装置 形成 半导体 方法
【权利要求书】:

1.一种包含纹路化基板的装置,包括:

一纹路化基板,包括:

多个沟槽,所述多个沟槽各包括一第一侧壁及一第二侧壁,该第二侧壁位于该第一侧壁的对面方向;及

多个用来反射光的反射器,所述多个反射器各自位于所述多个沟槽其中一个第一侧壁上;

其中所述多个沟槽的第二侧壁实质上不具有任何反射器。

2.如权利要求1所述的包含纹路化基板的装置,还包括一发光装置(LED),该发光装置位于该纹路化基板上与所述多个沟槽相反方向的表面。

3.如权利要求2所述的包含纹路化基板的装置,还包括一额外的反射器,其中该额外的反射器及该纹路化基板位于该LED的相反侧。

4.如权利要求1所述的包含纹路化基板的装置,其中该纹路化基板位于一芯片中,所述多个沟槽形成包围该芯片中心的封闭回路。

5.如权利要求4所述的包含纹路化基板的装置,其中该第一侧壁为面对该芯片中心的外侧壁,该第二侧壁为背向该芯片中心的内侧壁,靠近该芯片边缘的所述多个沟槽内侧壁的水平倾斜角度,小于靠近该芯片中心的所述多个沟槽内侧壁的水平倾斜角度。

6.如权利要求5所述的包含纹路化基板的装置,其中靠近该芯片边缘的外侧壁的水平倾斜角度接近45°,靠近该芯片中心的外侧壁的水平倾斜角度接近90°。

7.如权利要求1所述的包含纹路化基板的装置,其中该纹路化基板位于该芯片中,所述多个沟槽具有一第一图案密度位于靠近该芯片边缘的区域,及一第二图案密度位于靠近该芯片中心的区域,其中该第一及第二图案密度不同。

8.如权利要求1所述的包含纹路化基板的装置,其中所述多个沟槽的底部不具有反射器,且相邻沟槽之间的该纹路化基板上表面部分不具有反射器。

9.一种形成半导体装置的方法,该方法包括:

提供一基板;

形成多个沟槽,从该基板表面延伸至该基板中,其中所述多个沟槽包括内侧壁及外侧壁;

形成一反射层于该基板表面上及该内侧壁及该外侧壁上;及

从所述多个沟槽的内侧壁移除该反射层。

10.如权利要求9所述的形成半导体装置的方法,还包括从该内侧壁移除该反射层之后,将一发光装置(LED)接合至该基板上,其中所述多个沟槽及该LED位于该基板的不同侧。

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