[发明专利]半导体元件用外延基板、半导体元件及半导体元件用外延基板的制作方法有效
申请号: | 201010251741.9 | 申请日: | 2010-08-09 |
公开(公告)号: | CN102005470A | 公开(公告)日: | 2011-04-06 |
发明(设计)人: | 三好実人;仓冈义孝;角谷茂明;市村干也;杉山智彦;田中光浩 | 申请(专利权)人: | 日本碍子株式会社 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/778;H01L21/335 |
代理公司: | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人: | 钟守期;刘文君 |
地址: | 日本爱知*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 元件 外延 制作方法 | ||
1.一种半导体元件用外延基板,具有:
基底基板;
由至少含有Al和Ga、组成为Inx1Aly1Gaz1N(x1+y1+z1=1)的第一III族氮化物构成的沟道层;
由至少含有In和Al、组成为Inx2Aly2Gaz2N(x2+y2+z2=1)的第二III族氮化物构成的势垒层,
其特征在于,上述势垒层包括表面、从所述表面起在深度方向规定距离范围以内的表面附近部以及从所述表面起在深度方向的距离大于规定距离范围的基部,所述表面的In组成比相对于所述基部的In组成比要小。
2.权利要求1所述的半导体元件用外延基板,其特征在于,所述规定距离范围大于等于6nm,在将上述基部的上述第二III族氮化物的组成表示为Inx2αAly2αGaz2αN(x2α+y2α+z2α=1)、将上述表面附近部的上述第二III族氮化物的组成表示为Inx2βAly2βGaz2βN(x2β+y2β+z2β=1)的情况下,0.9≤x2β/x2α≤0.95。
3.权利要求1或2所述的半导体元件用外延基板,其特征在于,上述第一III族氮化物的组成在由x1=0、0≤y1≤0.3所确定的范围内,并且,
上述第二III族氮化物的组成是在以InN、AlN和GaN为顶点的三元状态图上,根据上述第一III族氮化物的组成确定的以下各式所表示的直线围成的范围内:
【数1】:
【数2】:
【数3】:
【数4】:
z 2=0
【数5】:
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