[发明专利]显示装置和电子设备

说明书

相关文件的交叉引用

本申请包含与2009年8月24日向日本专利局提交的日本专利申请JP2009-192853中公开的相关主题并要求其优先权，将其全部内容通过引用并入此处。

技术领域

本发明涉及显示装置和电子设备。本发明具体地涉及包括二维布置成矩阵的像素并具有电光装置的平板显示装置；并还涉及包括该显示装置的电子设备。

背景技术

近年来，在用于显示图像的显示装置领域，平板发光显示装置迅速普及。在所述发光显示器中，具有作为电光装置的发光型装置(发光装置)的像素(像素电路)布置成矩阵。已知的发光装置是利用了对施加于有机薄膜的电场作出响应而发光的现象的EL(电致发光)装置。有机EL装置是所谓的电流驱动型的电光装置，且其发光亮度随着流经该装置的电流值而变化。

以有机EL装置作为电光装置的有机EL显示装置具有下述特性。即，有机EL装置可由不超过10V的电压驱动，且因此其功耗小。因为有机EL装置为发光装置，故与通过使用液晶来控制来自每个像素的光源的光的强度而显示图像的液晶显示器相比，有机EL显示装置具有更高的图像清晰度。而且，有机EL显示装置不需要诸如背光的照明元件，故可容易地减少重量和厚度。而且，因为有机EL装置具有约几微秒的极高的响应速度，故在显示活动图像时不会出现残留影像。

同时，众所周知，有机EL装置的发光效率随着发光量和发光时间成比例地减少。在包括所述有机EL装置的显示装置中，当在显示屏上的特定显示区中重复地显示固定图像图案时，例如时间显示时，与其它显示区中的有机EL装置相比，该特定显示区中的有机EL装置更快速地劣化。

与其它显示区中的有机EL装置相比，特定显示区中的劣化的有机EL装置具有相对低的亮度。因此，特定显示区呈现亮度不均匀。即，例如在显示屏上的特定显示区中重复地显示固定图像图案时，特定显示区中的一些显示部分呈现永久性的亮度不均匀，引起所谓的老化。

解决老化问题已成为有机EL显示装置和其它发光显示装置的最重要的问题。在相关技术中，为了从信号处理方面校正老化，在像素阵列部(显示区)外侧设有不进行图像显示的伪像素，并通过检测伪像素的亮度的劣化，从而基于该检测结果校正老化(例如参见JP-A-2007-156044)。

将光检测器用于检测伪像素的亮度劣化。在相关技术中，所述光检测器位于显示面板的前侧(发光表面侧)，面向伪像素的发光表面。在光检测器位于显示面板的前侧的情况下，面板模块的厚度增加，且从而难以利用发光显示装置的小厚度的优点。

同时，在显示面板的后侧，设有用于驱动显示面板的驱动器及类似模块。因而，在显示面板的后侧设置光检测器不会增加面板模块的厚度。然而，当光检测器位于显示面板的后侧时，是在发光表面的相反侧检测伪像素的亮度。因为与发光表面侧的检测相比，环境较暗，故难以检测伪像素亮度。

发明内容

于是，期望提供一种显示装置，当光检测器设置于显示面板的与发光表面相反的一侧时，能够对伪像素亮度进行高效的检测；还期望提供一种包括该显示装置的电子设备。

根据本发明的实施例的显示装置包括：伪像素，其设置于显示面板上；反射膜，其设置于显示面板的发光表面侧上，以反射从伪像素发出的光；光检测器，其设置于显示面板的与发光表面相反的一侧，以用于检测从伪像素发出并从反射膜反射的光；以及校正电路，其用于基于光检测器的检测结果而校正用于图像显示的有效像素的亮度。

在这样配置的显示装置中，光检测器设置于显示面板的与发光表面相反的一侧，例如设置于显示面板的后侧。因此，由于用于驱动显示面板上的像素的驱动器模块设置于显示面板的后侧，故面板模块的厚度不会增加。而且，从伪像素发出的光被反射膜反射并从而引导到光检测器。因此，即使光检测器设置于显示面板的后侧，仍可有效地检测伪像素的亮度。

根据本发明的实施例，即使光检测器位于显示面板的与发光表面相反的一侧，仍可有效地检测对应的伪像素的亮度。

附图说明

图1是示意性地表示根据本发明的实施例的有机EL显示装置的配置的系统框图。

图2是表示根据本发明的实施例的有机EL显示装置的像素的电路(像素电路)的电路图。

图3是用于解释根据本发明的实施例的有机EL显示装置的基本电路操作的时序波形图。

图4A～图4D是表示根据本发明的实施例的有机EL显示装置的基本电路操作(第一例子)的操作图。

图5A～图5D是表示根据本发明的实施例的有机EL显示装置的基本电路操作(第二例子)的操作图。