[发明专利]具有嵌入式高密度电容的硅基座有效

专利信息
申请号: 201010255407.0 申请日: 2010-08-16
公开(公告)号: CN102376780A 公开(公告)日: 2012-03-14
发明(设计)人: 谢正雄;黄振堂 申请(专利权)人: 众智光电科技股份有限公司
主分类号: H01L29/94 分类号: H01L29/94;H01L29/41;H04B10/06;H04B10/12
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 具有 嵌入式 高密度 电容 基座
【权利要求书】:

1.一种电容性基座,用于玻璃光纤接收器中的光二极管的非接地绝缘,该基座包含:

一重掺杂硅基板;

沟槽数组,形成在该硅基板的上表面;

一介电层,形成在该沟槽数组的表面上;

一上电极,沉积覆盖在该介电层上;及

一下电极,沉积在该硅基板的下表面上。

2.根据权利要求1所述的电容性基座,其中该沟槽数组具有不同方向的子群数组的布局,其中该子群数组各自包含一个以上相互平行的沟槽。

3.根据权利要求2所述的电容性基座,其中相邻的该子群数组之间以相互垂直的方式加以排列。

4.根据权利要求1或2所述的电容性基座,其中该重掺杂硅基板为N++型重掺杂单晶硅或多晶硅基板。

5.根据权利要求1或2所述的电容性基座,其中该硅基板为P型重掺杂单晶硅或多晶硅基板。

6.根据权利要求4所述的电容性基座,其中该N++型重掺杂硅基板是以1018/cm3以上的浓度进行重掺杂。

7.根据权利要求1或2所述的电容性基座,其中该沟槽的宽度小于3微米;而该沟槽的深度小于该宽度的10倍。

8.根据权利要求1或2所述的电容性基座,其中该介电层为具有50埃到数千埃厚度的一原生氧化层。

9.根据权利要求1或2所述的电容性基座,其中该介电层为氮化硅或氧氮化硅。

10.根据权利要求1或2所述的电容性基座,更包含:

多晶硅再填物,置入该沟槽内。

11.根据权利要求1或2所述的电容性基座,更包含:金属插栓,置入该沟槽内。

12.根据权利要求1或2所述的电容性基座,其中该金属插栓为钨插栓。

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