[发明专利]一种工作台位置测量系统无效
申请号: | 201010256215.1 | 申请日: | 2010-08-18 |
公开(公告)号: | CN102375343A | 公开(公告)日: | 2012-03-14 |
发明(设计)人: | 齐芊枫;郑椰琴;吴立伟 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G01B11/00;G01B11/26 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 工作台 位置 测量 系统 | ||
1.一种工作台位置测量系统,其特征在于,所述工作台位置测量系统包括:一镜头、一主基板、一承片台、一大理石、至少一光栅尺组、以及与该光栅尺组相对应的至少一读头组,所述镜头固定在所述主基板上,并且镜头靠近所述光栅尺组的一端内陷于所述主基板,镜头远离所述光栅尺组的一端外露于所述主基板,所述读头组合成一读头集,所述读头集安装在主基板上,所述光栅尺组固定在所述承片台的四周,所述承片台安装在所述大理石上并在所述大理石表面运动。
2.根据权利要求1所述的工作台位置测量系统,其特征在于,所述读头组和所述光栅尺组对应排列成四边形布局。
3.根据权利要求1所述的工作台位置测量系统,其特征在于,所述读头组和所述光栅尺组对应排列成十字布局。
4.根据权利要求1所述的工作台位置测量系统,其特征在于,所述光栅尺组包括若干沿X方向延伸的水平光栅刻线和若干沿Y方向延伸的垂直光栅刻线;所述读头组由三排读头组成,三排读头的中间一排读头与光栅尺组的垂直光栅刻线对应,用于测量承片台X方向上的运动;三排读头的两侧两排读头与光栅尺组的水平光栅刻线相对应,用于测量承片台Y方向上的运动,并结合两侧两排读头所测Y方向上的读数结果得到承片台相对大理石的旋转角度。
5.根据权利要求1所述的工作台位置测量系统,其特征在于,所述读头组是传感器。
6.根据权利要求1所述的工作台位置测量系统,其特征在于,所述光栅尺组包括若干沿X方向延伸的水平光栅刻线和若干沿Y方向延伸的垂直光栅刻线;所述读头组106仅包括两排读头,其中一排读头与光栅尺组的垂直光栅刻线对应,用于测量承片台于X方向上的运动,另一排读头与光栅尺组的水平光栅刻线对应,用于测量承片台于Y方向上的运动。
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