[发明专利]利用磁传感器阵列的位置检测有效
申请号: | 201010261230.5 | 申请日: | 2006-09-12 |
公开(公告)号: | CN101915590A | 公开(公告)日: | 2010-12-15 |
发明(设计)人: | A·M·徳米特里夫;M·J·拉托里亚;L·F·里克斯 | 申请(专利权)人: | 霍尼韦尔国际公司 |
主分类号: | G01D5/00 | 分类号: | G01D5/00;G01D5/14;G01R33/09 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 刘金凤;高为 |
地址: | 美国新*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 传感器 阵列 位置 检测 | ||
1.一种磁阻传感器系统,包括:
被排列成旋转阵列的多个磁阻感测部件,其中所述多个感测部件之中的至少一些磁阻感测部件彼此被以不规则的方式有角度地隔开,以便优化所述旋转阵列的性能并且满足其特定磁阻感测应用的要求。
2.如权利要求1所述的系统,其中所述阵列被配置在印刷电路板(PCB)上。
3.如权利要求1所述的系统,其中所述多个磁阻部件之中处于所关心区域中的磁阻部件对之间的角间距的减小使得具有所述旋转阵列的所述所关心区域中的绝对准确度得以优化。
4.如权利要求1所述的系统,还包括接收来自每个磁阻部件的数据的集成电路。
5.如权利要求1所述的系统,其中所述多个磁阻部件中的每个磁阻部件包括AMR桥接电路。
6.如权利要求1所述的系统,其中所述多个磁阻部件中的每个磁阻部件包括AMR传感器。
7.如权利要求1所述的系统,还包括多个芯片载体,其中所述多个芯片载体之中的每个芯片载体与所述多个磁阻部件之中的相应的磁阻部件相关联。
8.一种磁阻传感器系统,包括:
被排列成旋转阵列的多个磁阻感测部件,所述旋转阵列被配置在印刷电路板(PCB)上;
所述多个感测部件之中的至少一些磁阻感测部件彼此被以不规则的方式有角度地隔开,以便优化所述旋转阵列的性能并且满足其特定磁阻感测应用的要求;以及
其中所述多个磁阻部件之中处于所关心区域中的磁阻部件对之间的角间距的减小使得具有所述旋转阵列的所述所关心区域中的绝对准确度得以优化。
9.如权利要求8所述的系统,其中所述多个磁阻部件中的每个磁阻部件包括AMR桥接电路。
10.一种磁阻传感器系统,包括:
布置成阵列的多个磁阻感测部件,其中所述多个感测部件之中的每个磁阻感测部件彼此被不规则地隔开,以便优化所述旋转阵列的性能并且满足其特定磁阻感测应用的要求,所述规则的间距包括所述磁阻感测部件之间的三个或更多个不同的间距。
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