[发明专利]键盘响应测试系统与方法有效
申请号: | 201010262671.7 | 申请日: | 2010-08-18 |
公开(公告)号: | CN102375771A | 公开(公告)日: | 2012-03-14 |
发明(设计)人: | 林长盘;叶冠麟 | 申请(专利权)人: | 精英电脑股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/267 | 分类号: | G06F11/267 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 键盘 响应 测试 系统 方法 | ||
【技术领域】
本发明涉及一种键盘响应测试系统与方法,特别涉及一种可调整敲键速度的键盘响应测试系统与方法。
【背景技术】
众所周知,使用者可以藉由选择性按压一电脑键盘(keyboard)上的各按键以逐一键入特定输入法的预设按键至一电脑主机中,该电脑主机根据该特定输入法的预设编码规则将该使用者输入的按键解码后,再经由其输出设备如一电脑屏幕上形成并输出使用者所期望的文字。因为每一个使用者每次的打字速度不一定相同,对不同的使用者的打字速度更是因人而异,甚至世界各国各种不同输入法的打字速度的差异更大。目前,现有电脑键盘的测试方式仅有检测各按键按压动作有无反应,而无任何一种可用于测试或调整各按键的反应时间或间隔的机制或方法,也没有一种能根据不同使用者打字输入的速度对待测电脑键盘进行测试的机制或方法,不符合现况需求。
【发明内容】
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种键盘响应测试系统,是可根据一文字档模拟使用者敲击键盘,以解决前述的问题。
本发明的另一目的在于提供一种键盘测试方法,其可依不同的输入速度测试待测装置,以获得键盘的最大反应速度。
为达上述的目的,本发明提供了一种键盘响应测试系统,适用于一主机测试一待测装置的键盘反应速度,其包括一控制验证单元、一转换单元、及一作动单元。该控制验证单元设置于该主机内,用于预设至少一敲键参数并将一文字档转换成一连串的字码信号。该转换单元用于将该字码信号转换成至少一控制信号。该作动单元根据该转换单元传来的该至少一控制信号,敲击该键盘以于该待测装置产生至少一对应字元,其中该控制验证单元比对该文字档与该对应字元之间的差异,且根据该比对结果,调整该至少一敲键参数,以获得该键盘的反应速度。
于本发明较佳实施例中,该主机用以读取该文字档,且该转换单元是电性连接于该主机。该作动单元包括一击键阵列及一控制电路,且对应设置于该键盘上方并电性连接于该转换单元,用于接收该至少一控制信号后,依序移动该击键阵列敲击该键盘中的一对应按键,以产生该至少一对应字元。另外,该待测装置电性连接该主机,并用于储存该至少一对应字元,且传送该对应字元至该主机的控制验证单元以与该文字档比对。其中每一控制信号包括:一键号,用以确定该击键阵列敲击该键盘的哪一个按键;以及该至少一敲键参数。其中该敲键参数包括:一敲击持续时间,用以表示敲击该按键的敲击持续时间;以及一敲击间隔时间,表示每两次敲击之间的间隔时间。
当该控制验证单元调整该敲键参数时,可借着缩短该敲击间隔时间来加快该击键阵列的敲键速度,即可测试出该键盘的反应速度的极限,以获得该键盘的一最大反应速度。
为达上述的另一目的,本发明提供一种键盘响应测试方法,适用于一主机测试一待测装置的键盘反应速度,其包括以下步骤:利用设置于该主机内的一控制验证单元预设至少一敲键参数,并将一文字档转换成一连串的字码信号;利用一转换单元将该字码信号转换成至少一控制信号;利用一作动单元根据该至少一控制信号敲击该键盘,以于该待测装置产生至少一对应字元;以及利用该控制验证单元比对该文字档与该对应字元之间的差异,且根据该比对结果调整该敲键参数以获得该键盘的反应速度。
于本发明较佳实施例中,获得该键盘的反应速度包括以下步骤:(a)利用该控制验证单元设定一比对模式及初始化的该敲键参数,以获得初始化的该敲击持续时间及该敲击间隔时间;(b)利用该作动单元根据初始化的该敲键参数敲击该键盘,以获得该至少一对应字元;(c)判断该对应字元与该文字档是否出现差异,如果是,重新设定该敲击间隔时间并返回步骤(a),如果否,则执行步骤(d);(d)判断是否继续测试,如果否,则结束测试;如果是,则返回步骤(a)。另外,该比对模式是可分为非同步比对模式以及同步比对模式。
根据本发明的键盘响应测试系统与方法,该控制验证单元配合该转换单元将该文字档转成控制信号,以模拟使用者打字。并可调整该敲击间隔时间来增减敲键速度,并比对文字档与该对应字元的差异而获得该键盘的最大反应速度。
【附图说明】
图1是绘示本发明的一较佳实施例的键盘响应测试系统的示意图。
图2是绘示本发明较佳实施例的键盘测试方法流程图。
图3是绘示本发明较佳实施例的非同步比对模式的流程图。
图4是绘示本发明较佳实施例的同步比对模式的流程图。
【具体实施方式】
本发明的较佳实施例将与所附图示与下面的说明加以详细的描述,在不同图示中,相同的参考标号表示相同或相似的元件。
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