[发明专利]测试完整性控制系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种控制测试流程的系统及方法，特别是关于一种测试完整性控制系统及方法。

背景技术

电子设备(例如主板)的测试经常包含众多的测试项(例如内存测试、CPU测试、南桥测试、北桥测试等)。在测试电子设备时，测试员容易改变测试流程而少测一些测试项，因而存在测试结果不可靠的风险。例如，在DOS系统下测试电子设备时，由于DOS系统对文件保护较弱，测试员很容易修改控制测试流程的批处理文件来少测一些测试项。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种测试完整性控制系统，能够加强测试流程的完整性。

此外，还有必要提供一种测试完整性控制方法，能够加强测试流程的完整性。

一种测试完整性控制系统，运行于具有主板管理控制器的数据处理设备中，用于对电子设备的测试流程进行控制，所述主板管理控制器包括FRU存储区，该系统包括：构建模块，用于构建电子设备的测试控制数据并将构建的测试控制数据写入所述FRU存储区中，所述测试控制数据包括测试位与标志位，每个测试位对应于电子设备的一个测试项；测试模块，用于从FRU存储区读取测试控制数据并根据测试控制数据逐一选择电子设备的测试项进行测试，对于每一个选择的测试项，判断该选择的测试项是否测试成功，若该选择的测试项测试成功，则将测试控制数据中该选择的测试项对应的测试位取反；比较模块，用于在所有的测试项测试完毕后将测试后发生改变的测试控制数据与初始构建的测试控制数据相比较，判断测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位是否与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，以及判断测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位是否与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同；及输出模块，用于在测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，并且测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同时，输出电子设备测试通过的测试结果，在测试后发生改变的测试控制数据中有标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位不同，或者测试后发生改变的测试控制数据中有测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位相同，或者选择的测试项测试失败时，输出电子设备测试未通过的测试结果。

一种测试完整性控制方法，执行于具有主板管理控制器的数据处理设备中，用于对电子设备的测试流程进行控制，所述主板管理控制器包括FRU存储区，该方法包括步骤：构建电子设备的测试控制数据并将构建的测试控制数据写入FRU存储区中，所述测试控制数据包括测试位与标志位，每个测试位对应于电子设备的一个测试项；从FRU存储区读取测试控制数据，并根据测试控制数据选择电子设备的一个测试项进行测试；判断该选择的测试项是否测试成功；若该选择的测试项测试失败，则输出电子设备测试未通过的测试结果，否则，若该选择的测试项测试成功，则将测试控制数据中该选择的测试项对应的测试位取反；判断是否有其他的测试项，若有其他的测试项，返回选择电子设备的一个测试项进行测试的步骤；若所有的测试项测试完毕，将测试后发生改变的测试控制数据与初始构建的测试控制数据相比较，判断测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位是否与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，以及判断测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位是否与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同；若测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，并且测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同，输出电子设备测试通过的测试结果；及若测试后发生改变的测试控制数据中有标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位不同，或者测试后发生改变的测试控制数据中有测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位相同，则输出电子设备测试未通过的测试结果。

本发明构建测试控制数据并将测试控制数据写入主板管理控制器的FRU存储区中，测试员难以获得与修改该测试控制数据，加强了测试流程的完整性。

附图说明

图1为本发明测试完整性控制系统较佳实施例的应用环境示意图。

图2为图1中测试完整性控制系统的功能模块图。

图3为本发明测试完整性控制方法较佳实施例的流程图。

图4为构建的用于主板测试的测试控制数据的示意图。

主要元件符号说明