[发明专利]光学记录介质、制造光学记录介质的方法、记录方法及再现方法无效

专利信息
申请号: 201010271123.0 申请日: 2010-09-01
公开(公告)号: CN102013260A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 藤田五郎;齐藤公博 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G11B7/0065 分类号: G11B7/0065;G11B7/24
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 王安武;南霆
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 记录 介质 制造 方法 再现
【权利要求书】:

1.一种光学记录介质,包括:

记录层,其包括具有预定光栅间距的衍射光栅,通过将透明且折射率略微不同的第一层和第二层交替层叠来获得所述衍射光栅;以及

中间层,其是透明的且具有比所述记录层更大的厚度,所述记录层与所述中间层被交替层叠。

2.根据权利要求1所述的光学记录介质,

其中,所述中间层具有与所述第一层及所述第二层中任一者的折射率等值的折射率。

3.根据权利要求1所述的光学记录介质,

其中,所述中间层由光固化树脂制成。

4.根据权利要求1所述的光学记录介质,

其中,所述中间层具有10μm或更大的厚度。

5.一种制造光学记录介质的方法,在所述光学记录介质中,记录层与中间层被交替层叠,所述方法包括:

制造包括衍射光栅的记录层,通过多次将透明且折射率略微不同的第一材料和第二材料交替地层叠成为预定厚度,来提供具有预定光栅间距的所述衍射光栅;并且

制造所述中间层,所述中间层是透明的且具有比所述记录层更大的厚度。

6.一种记录方法,用于根据记录信息在光学记录介质上记录删除标记,包括以下步骤:

根据所述记录信息发出激光束,使得所述激光束的焦点位置与所述光学记录介质的作为记录目标的记录层一致,并且使作为所述记录目标的所述记录层上的折射率分布平坦化,其中,所述光学记录介质是通过将所述记录层和中间层交替层叠而构成的,所述记录层包括通过将透明且折射率彼此略有不同的第一层和第二层交替层叠而提供的具有预定光栅间距的衍射光栅,所述中间层是透明的且具有比所述记录层更大的厚度。

7.一种用于光学记录介质的再现方法,包括以下步骤:

向所述光学记录介质发出激光束,使得所述激光束被聚焦在所述光学记录介质的作为再现目标的记录层上,其中,在所述光学记录介质处,在所述光学记录介质的所述记录层上形成有与记录信息对应的删除标记,所述光学记录介质是通过将所述记录层和中间层交替层叠而构成的,所述记录层包括通过将透明且折射率彼此略有不同的第一层和第二层交替层叠而提供的具有预定光栅间距的衍射光栅,所述中间层是透明的且具有比所述记录层更大的厚度;

对在发出激光束步骤发出的所述激光束的反射光进行检测;并且

基于在检测反射光步骤对所述反射光的检测结果,来对在作为所述再现目标的所述记录层上记录的信息进行再现。

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