[发明专利]一种适用于干涉式光纤陀螺的检测电路系统误差的开环测试方法

权利要求书

1.一种适用于干涉式光纤陀螺的检测电路系统误差的开环测试方法，所述检测电路包括有前放滤波电路(61)、A/D转换器(62)、中心处理器(63)、D/A转换器(64)、放大调理电路(65)和晶振电路(66)；前放滤波电路(61)对光电探测器(5)输出的光功率信号f₁进行滤波放大处理，然后滤波放大后的光功率信号经A/D转换器(62)后形成调制串扰信号f₂输出给中心处理器(63)；其特征在于包括有下列处理步骤：

第一步：采样时序控制单元控制时钟信息t来获得调制串扰信号f₂进行数字式逐点平均扫描的采样时间点t₀；

第二步：在采样时间点t₀上，对调制串扰信号f₂在一个干扰信号的周期T内均匀采样M次，并将采样值x_ij储存在相应的采样寄存单元中；

所述采样值x_ij中i表示循环次数，i＝1，2，...N，N表示设定的最大循环次数；

所述采样值x_ij中j表示采样次数，j＝1，2，...M，M表示设定的最大采样次数；

第三步：多路选择单元依据顺时方式对采样寄存单元A、采样寄存单元B至采样寄存单元M中的采样值进行通道选通；

第四步：移位累加存取单元对接收到的采样寄存单元A中的采样值进行移位累加处理，得到第一个累加和；

移位累加存取单元对接收到的采样寄存单元B中的采样值进行移位累加处理，得到第二个累加和；

移位累加存取单元对接收到的采样寄存单元M中的采样值进行移位累加处理，得到第M个累加和；

第五步：累加和平均单元对接收的第一个累加和进行平均处理，得到第一个采样平均值；

累加和平均单元对接收的第二个累加和进行平均处理，得到第二个采样平均值；

累加和平均单元对接收的第M个累加和进行平均处理，得到第M个采样平均值；

第六步：将第一个采样平均值、第二个采样平均值、……、第M个采样平均值进行时间-电压的拟和，得到恢复后的串扰噪声。

2.根据权利要求1所述的一种适用于干涉式光纤陀螺的检测电路系统误差的开环测试方法，其特征在于：调制串扰信号f₂和调制方波信号同频率，为167KHz，幅值为5μV。

3.根据权利要求1所述的一种适用于干涉式光纤陀螺的检测电路系统误差的开环测试方法，其特征在于：数字式逐点平均扫描是内嵌在中心处理器(63)选取的芯片上，并运用VerilogHDL编程语言实现。

4.根据权利要求1所述的一种适用于干涉式光纤陀螺的检测电路系统误差的开环测试方法，其特征在于：中心处理器(63)包括有采样时序控制单元、移位累加存取单元、累加和平均单元、结果寄存单元、多路选择单元和采样寄存器；所述的采样寄存器由多个采样寄存单元构成；采样时序控制单元依据晶振电路(66)提供的时钟信息t，对调制串扰信号f₂采用数字式逐点平均扫描方式进行采样时间点t₀的控制；多路选择单元用于选择当前所需处理的采样寄存单元内的采样值x_ij；移位累加存取单元对接收到的采样值x_ij进行移位累加处理，得到累加和；累加和平均单元对接收的累加和进行平均处理，得到采样平均值A(t_j)；结果寄存单元用于对采样平均值进行储存。