[发明专利]一种PROM的测试系统

说明书

技术领域

本发明属于测试技术领域，尤其涉及一种PROM的测试系统。

背景技术

测试覆盖率和测试时间是一般的半导体器件，特别是一次可编程存储器产品进行测试的两大重要方面。

现有的对可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory，PROM)的测试比较简单，具体的测试系统如图1所示，主要包括：电源11、第一逆变电路12、第二逆变电路13、微控制单元MCU 14、第一开关电路15、第二开关电路16、待测PROM 17以及电压调节器18。通过第一开关电路15和第二开关电路16分别控制第一逆变电路12输出的编程电压VPP和第二逆变电路13输出的工作电压VDD后，将VPP和VDD分别输出至待测PROM 17，微控制单元MCU 14即可对待测PROM 17进行查空、编程以及读出功能的测试。

综上可知，现有技术提供的测试系统不能调整输出至待测PROM的工作电压和编程电压，因此只能对PROM进行查空、编程以及读出功能的测试，而对PROM测试覆盖率的一些相关特性无法测试，所以成品率比较低，大约80％。另外，由于没有对灵敏放大器和己编程单元的余量测试，致使可靠性不高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种PROM的测试系统，旨在解决现有技术提供的PROM的测试系统不能全面的对PROM进行测试，成品率比较低，并且测试可靠性不高的问题。

本发明是这样实现的，一种PROM的测试系统，包括电源、与所述电源连接的第一逆变电路第二逆变电路和第三逆变电路、与所述第一逆变电路连接的第一开关电路、与所述第二逆变电路连接的第二开关电路、与所述第三逆变电路连接的第三开关电路与所述第一开关电路第二开关电路和第三开关电路的输出端连接的待测PROM、与所述待测PROM连接的微控制单元MCU，所述系统还包括：

与所述微控制单元MCU连接，用于将所述微控制单元MCU输出的数字电压值转换成模拟电压值的数模转换电路DAC。

在本发明中，PROM的测试系统中的数模转换电路DAC，将微控制单元MCU输出的数字电压值转换成模拟电压值，进而可以通过微控制单元MCU根据测试的条件改变加载在PROM上的编程电压、工作电压以及读电压，能够在产品的不同阶段进行测试。比如，在晶圆阶段，可以进行单元耐压测试和未编程阵列测试。在封装阶段，可以进行编程测试和己编程单元的余量测试。通过在不同阶段的测试，可以筛选出PROM的次品，能极大提高公司产品品质，改善PROM芯片性能。

附图说明

图1是现有技术提供的PROM的测试系统的结构框图

图2是本发明实施例提供的PROM的测试系统的结构框图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

在本发明实施例中，提供的PROM的测试系统可以根据测试的条件改变加载在PROM上的编程电压和工作电压以及读电压，能够在产品的不同阶段进行测试。比如，在晶圆阶段，可以进行单元耐压测试和灵敏放大器和未编程单元漏电测试；在封装阶段，可以进行最大和最小工作电压下稳定性检测和可编程余量测试。通过在不同阶段的测试，可以筛选出PROM的次品，能极大提高公司产品品质，改善PROM芯片性能。

图2是是本发明实施例提供的PROM的测试系统的结构框图，为了便于说明，仅示出了本发明实施例相关的部分。在本实施例中，该测试系统包括：电源21、第一逆变电路22、第二逆变电路23、第三逆变电路24、第一开关电路25、第二开关电路26、第三开关电路27、第一运算放大器28、第二运算放大器29、第三运算放大器30、微控制单元MCU 31、数模转换电路DAC 32、模数转换电路ADC 33、待测PROM34以及电压调节器35。

其中，第一逆变电路22、第二逆变电路23、第三逆变电路24是直流到直流的逆变电源电路，配以数模转换电路DAC 32和第一运算放大器28、第二运算放大器29、第三运算放大器30，分别调整第一逆变电路22、第二逆变电路23和第三逆变电路24的管脚电压，从而控制逆变电路的输出电压值。在本实施例中，逆变电路主要由LM2575芯片组成。

其中，第一逆变电路22、第二逆变电路23、第三逆变电路24的输出电压值分别加载在第一开关电路25、第二开关电路26、第三开关电路27上，目的是第一开关电路25、第二开关电路26、第三开关电路27为待测PROM 34提供编程电压VPP、工作电压VDD以及读电压VRR。