[发明专利]用于TD-LTE终端自动增益控制校准的方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于TD-LTE终端的自动增益控制校准的方法和系统，具体地，涉及对TD-LTE终端的发射机自动增益控制进行快速自动校准，本发明适用于TD-LTE终端的发射机自动增益控制进行自动校准。 

背景技术

由于器件不一致、温度变化、器件老化等因素的影响，即使是基于同样的平台同样的设计，也会表现出不同的电性能。 

为了消除这种影响，每个手机在出厂之前都要对这些参数进行测量计算得到一些参数误差数据，并把这些误差数据存储到一定的存储介质(一般为EEPROM)里，在手机正常使用过程中，CPU会读取这些数据并利用一定的算法对需要补偿的参数进行补偿。在生产测试过程中，对需要补偿校正的数据测量、计算并存入EEPROM里的过程，称之为校准。 

伴随TD-LTE技术的日益发展成熟、以及其TD-LTE终端的商用化进程的加快，为了迎接TD-LTE终端(包括手机、无线上网卡和模块等)的大批量生产，需要自动校准TD-LTE终端完成上述批量生产任务。 

自动增益控制校准(AGC)是衡量TD-LTE终端接收机性能的一项重要指标，检验手机是否能发射一定功率的信号。我们希望被测TD-LTE终端接收机输出电平不会随外来信号的改变而变化，这样可避免在TD-LTE终端内部芯片中因外来信号过强而发生饱和失真或者因信号太弱而不能解调。因此，在接收弱信号时，接收机应提供较大增益，在接收强信号时，接收机增益应减小。这一方式就通过AGC校准来完成。 

被测TD-LTE终端接收到的输入信号功率和输出ADC值是近似线性的，我们可以利用这一特点来实现AGC校准。 

传统TD-LTE的AGC校准方式一般是使用，由于不能对信号和TD-LTE终端进行准确定位，一次校准只能针对一台TD-LTE终端，对于产线级的大量TD-LTE终端校准来说，其效率是很低的。 

发明内容

鉴于以上需求以及现有技术的缺陷，本发明的目的在于：提供一种用于TD-LTE终端的自动增益控制校准的方法和系统，可以简单、高效地实现TD-LTE终端自动增益控制校准的方法，能够同时对2～8台TD-LTE终端实现自动增益控制校准。 

本发明的技术方案：本发明提供了一种用于TD-LTE终端自动增益控制校准的方法，测量设备包括PC机和TD-LTE综测仪，TD-LTE综测仪包括主控机、系统模拟器以及射频数字发射模块，PC机通过GPIB接口与TD-LTE综测仪主控机连接，PC机通过串口与被测终端连接，被测TD-LTE终端通过射频线与TD-LTE综测仪射频数字发射模块连接，按如下步骤校准： 

1)TD-LTE综测仪连接2～8个TD-LTE终端，通过PC机控制TD-LTE终端进入TD-LTE的AGC校准模式，打开TD-LTE终端接收通道； 

2)PC机通过TD-LTE综测仪主控机初始化系统模拟器和射频数字发射模块； 

3)PC机通过TD-LTE综测仪主控机配置TD-LTE综测仪系统模拟器发送频点，系统模拟器在一个无线帧的子帧0-7上发送功率信号至射频数字发射模块，子帧8作为TD-LTE终端切换频率的稳定时间，子帧9用于跳频； 

4)射频数字发射模块接收到系统模拟器发送的数字基带信号后，将此信号进行调制，并经过上变频处理后通过射频信号线发送到各被测TD-LTE终端。 

5)2～8个被测TD-LTE终端分别接收对应子帧上的信号，将此物理信号通过TD-LTE终端内部的ADC芯片转换为数字值并通过串口送给PC机； 

6)PC机分别读取2～8个TD-LTE终端上的ADC值，将此值与配置的发射功率进行对应并记录； 

7)PC机更换配置功率点，重复步骤3)～6)，直到所有要求的功率点测试完毕； 

8)PC机在获取所有测试功率点的TD-LTE终端信号后，由PC机对各TD-LTE终端AGC参数进行计算，将计算得出的AGC参数写入指 令，写回对应的被测TD-LTE终端的EEPROM中。 

进一步地，所述的步骤1中，2～8台TD-LTE终端通过串口的物理地址进行区分。 

进一步地，所述的步骤8中，所述的AGC参数即为配置发射功率和接收到的ADC值在二维坐标图中对应点的最优拟合斜线斜率及偏移值；所述的最优拟合斜线要求所有测试功率在坐标中的对应点与拟合斜线之间偏差的方差达到最小。