[发明专利]用于测试TD-LTE终端射频性能的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及移动通信技术领域，具体涉及一种用于测试TD-LTE终端射频性能的方法和装置。

技术背景

随着现代通信行业的发展，以及TD-SCDMA制式终端的日益成熟，TD-LTE(TD-SCDMA Long term evolution)技术不断完善，TD-LTE终端生产量将会逐渐加大。为了检查TD-LTE终端的生产质量和性能指标，必须通过终端综合测试仪进行测试。目前还没有成熟的TD-LTE终端综合测试仪，这样严重限制了TD-LTE终端厂商的研发和生产效率，增加了TD-LTE终端的研发和生产成本。

发明内容

本发明的目是针对上述技术问题，提供一种可以测试TD-LTE终端射频性能的方法和装置，该方法及装置可以在信令连接的情况下对TD-LTE终端进行射频性能测试。

为实现上述目的，本发明所设计的一种用于测试TD-LTE终端射频性能的方法，其特征在于它包括如下步骤：

1)打开TD-LTE终端综合测试仪的电源并按照3GPP(3rd Generation Paratership Project，第三代合作伙伴项目)协议关于TD-LTE终端射频测试规范的参数要求，设置好TD-LTE终端入网所需的系统参数；将TD-LTE终端与TD-LTE终端综合测试仪进行射频连接，给TD-LTE终端上电；

2)TD-LTE终端进行开机入网信令流程；

3)通过TD-LTE终端综合测试仪寻呼TD-LTE终端建立专用的无线承载或通过TD-LTE终端向TD-LTE终端综合测试仪发起连接建立请求并建立专用的无线承载；在建立专用的无线承载的信令流程中设置连接建立信令中的半静态调度参数，对TD-LTE终端进行半静态调度；指定TD-LTE终端在固定的上行子帧上传输上行PUSCH(Physical uplink shared channel，物理上行共享信道)信号；

4)TD-LTE终端综合测试仪采集TD-LTE终端的上行PUSCH信号，再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD-LTE终端综合测试仪的信号处理模块计算得到TD-LTE终端的射频性能指标。

在步骤3)中，在建立专用的无线承载的信令流程中，将连接建立信令的半静态调度参数中的子参数上行半持续调度间隔设置为sf10，即10个子帧，半静态调度参数中的子参数SPS C-RNTI(Semi-Persistent Scheduling Cell Radio Network Temporary Identifier，半持续调度小区临时标识)设置为3GPP协议规定的参数值范围内任意一个固定值；建立专用的无线承载后，TD-LTE终端综合测试仪在无线帧中的子帧#6上以DCI(Downlink Control Information，下行控制信息)格式0传输TD-LTE终端的下行PDCCH(Physical downlink control channel，物理下行控制信道)信号，该下行PDCCH信号以TD-LTE终端的SPS C-RNTI进行加扰，并通过下行PDCCH信号携带的DCI信息指定TD-LTE终端在对应的上行子帧#2上传输上行PUSCH信号；TD-LTE终端根据SPS C-RNTI检测到PDCCH信号，解析DCI信息，并在子帧#2上传输上行PUSCH信号；由此完成了TD-LTE终端在固定子帧上传输上行PUSCH信号的过程。

所述TD-LTE终端的射频性能指标包括发射机性能指标和接收机的性能指标；其中，对于进行TD-LTE终端的发射机性能指标测试的步骤为：根据各个测试项目的参数要求设置TD-LTE终端综合测试仪的系统参数，TD-LTE终端综合测试仪的射频接收单元采集TD-LTE终端的上行PUSCH信号，再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD-LTE终端综合测试仪的信号处理模块计算得到TD-LTE终端的发射机性能指标；对于进行TD-LTE终端的接收机指标测试的流程为：根据接收机测试项目对TD-LTE终端综合测试仪的要求设置系统参数；系统模拟器在与终端进行数据传输的过程中获取终端的数据传输误码率和吞吐量统计参数；主控单元从系统模拟器中读取数据传输误码率和吞吐量统计参数并进行处理得到接收机测试指标。

TD-LTE终端发射机性能测试需要测试的指标如下：TD-LTE终端最大输出功率，功率控制，最低输出功率，发射开/关功率，频率误差，误差矢量幅度，占用带宽，频谱辐射模板，邻道泄漏比。

TD-LTE终端的接收机性能测试需要测试的指标如下：参考灵敏度，最大输入功率，接收机误码率，吞吐量。