[发明专利]一种波形和信号测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子产品的测试领域，更具体地说，涉及一种用于电子产品的波形和信号测试装置及方法。

背景技术

在电子产品的生产过程中需要对各项功能进行测试，其中波形测试与信号测试是基本的测试项目。一般使用的测试方法是采用两次测试工序或两道测试工位，即先对电子产品的输入信号进行测试，然后，再对输入波形进行测试。这种使用两次测试工序的方法测试时需拔插两次接线，信号和波形分开测试，工作效率较低，现已成为业界亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于电子产品的波形和信号测试装置及方法。本发明能在一个工位对产品的波形和信号进行测试，提高工作效率。

本发明的设计构思是通过一个三通端子，来实现在一个工位上完成两项测试工作。

本发明提出的波形和信号测试装置包括：一三通端子，其下方端口为与检测产品连接的输入端，上方一个端口为与被测信号连接的输入端口，另一个端口为与示波器连接的输出端口；以及遥控器，所述的遥控器切换设置在检测产品中的测试选择菜单，完成产品的测试工作。

本发明提出的电子产品的波形和信号测试方法包括下列步骤：

步骤1、将三通端子下方的输入端与电子产品的高频头信号输入端口连接，测试设备的信号线与三通端子上方的输入端口连接，示波器输出线与三通端子上方的输出端口连接；

步骤2、用遥控器控制待测产品内设置的选择菜单，选择信号测试项目，并进行信号测试；

步骤3、用遥控器切换测试选择菜单，进行波形测试；

步骤4、检测测试结果，结束测试操作。

与现有技术比较，本发明具有如下有益效果：

1、仅通过一个三通端子实现两路输入，操作方便；

2、两项输入互不干扰，通过菜单切换完成两项测试，无须重新更换测试输入线，提高了测试效率。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明做详细的说明，其中：

图1和图2是现有技术分别测试波形和信号的示意图；

图3是本发明在一个工位上测试波形和信号的示意图；

图4是本发明三通端子的结构示意图。

具体实施方式

如图1和图2所示，现有的测试方法是采用两次测试工序分别完成电子产品的测试工作，如先对电子产品输入信号进行测试，然后，再使用示波器对产品的波形进行测试。这种使用两次测试工序的方法测试时需拔插两次接线，工作效率较低。

如图3所示，本发明使用一个三通端子完成两种测试工作。如图4所示，三通端子采用T形结构，三个端口是相通的，三通端子的下方输入端口1与电子产品DVB的一组高频头信号输入端口连接，左方输入端口2与一组测试信号连接，右方输出端口3与示波器输入端口连接，信号与波形两组互不干扰，测试时减少插线频率，通过一遥控器控制待测电子产品内的功能菜单完成信号与波形的测试。

操作时，具体工艺步骤如下：

步骤1、将三通端子下方的输入端口1与电子产品的高频头信号输入端口连接，测试设备的信号线与三通端子上方的输入端口2连接，示波器输出线与三通端子上方的输出端口3连接；

步骤2、用遥控器控制待测产品内设置的选择菜单，选择信号测试项目，并进行信号测试；

步骤3、用遥控器切换测试选择菜单，进行波形测试；

步骤4、检测测试结果，结束测试操作。

本发明提出的装置将波形和信号同时输入，通过控制元件对测试菜单进行切换，在一道工位快速方便的完成波形和信号两个项目的测试，提高测试效率。