[发明专利]具测试架构的平面显示装置

说明书

本申请是2008年5月23日申请的发明专利申请“具测试架构的平面显示装置”的分案申请，原申请的申请号为200810098342.6。

技术领域

本发明涉及一种平面显示装置，尤其涉及一种具测试架构的平面显示装置。

背景技术

平面显示装置(Flat Panel Display)为目前主要流行的显示器，其中液晶显示装置更因为具有外型轻薄、省电以及无辐射等特征，而被广泛地应用于计算机屏幕、行动电话、个人数字助理(PDA)、平面电视等电子产品上。液晶显示装置的工作原理是利用改变液晶层两端的电压差来改变液晶层内的液晶分子的排列状态，用以改变液晶层的透光性，再配合背光模块所提供的光源以显示影像。

图1为现有技术的具测试架构的平面显示装置。如图1所示，平面显示装置100包含下基板110及上基板190，液晶层即夹置于下基板110与上基板190之间。上基板190为彩色滤光片，用来使平面显示装置100可显示彩色画面。下基板110包含可挠性印刷电路板(Flexible Printed Circuit Board)接合区160、多数个源极驱动芯片设置区120、多数个栅极驱动芯片设置区140，多数条数据线130、多数条栅极线150、多数条短路配线125、水平总线135、垂直总线155、及影像显示区195。可挠性印刷电路板接合区160包含多数个连接垫165，用以耦接水平总线135及垂直总线155的多数条水平传输线及多数条垂直传输线。源极驱动芯片设置区120与栅极驱动芯片设置区140分别用以设置源极驱动芯片(未显示)与栅极驱动芯片(未显示)。水平总线135及垂直总线155以阵列布线(Wiring On Array，WOA)型式设置于下基板110的外引脚接合区(Outer Lead Bonding，OLB)。

通常在源极驱动芯片与栅极驱动芯片贴附至源极驱动芯片设置区120与栅极驱动芯片设置区140之前，会先执行阵列测试(Array Test)及像素测试(Cell Test)，用以检测平面显示装置100是否有阵列布线缺陷或像素异常颜色显示，所以下基板110另设置多数个内部测试垫170，分别耦接于多数条短路配线125，再通过多数条外部信号传输线172分别耦接至多数个外部测试垫175。如图1所示，连接内部测试垫170与外部测试垫175的外部信号传输线172与垂直总线155相互交叉，甚至与水平总线135的部分水平传输线相互交叉，所以可能造成交叉短路使线路工作不正常。此外，由于要在外引脚接合区设置多数阵列内部测试垫170，所以会显著限缩阵列布线的设置空间，因而增加布线阻抗，影响信号传输的准位。

图2为图1所示的源极驱动芯片设置区的内部布局示意图。如图2所示，在源极驱动芯片设置区120中，另设置多数个接合垫121以及至少二个对准标记123。在完成阵列测试及像素测试后，利用激光切割工艺沿着激光切割线124切断短路配线125与数据线130之间的联机，此激光切割工艺利用对准标记123来进行对位。栅极驱动芯片设置区140的内部布局与源极驱动芯片设置区120的内部布局相似，因此不再赘述。完成激光切割工艺后，才将源极驱动芯片与栅极驱动芯片贴附至源极驱动芯片设置区120与栅极驱动芯片设置区140。然而，在进行激光切割工艺时，会产生微粒污染产品，降低产品输出率，而工艺所需的激光切割机台则会增加生产成本。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种具测试架构的平面显示装置。

为实现上述目的，依据本发明的实施例，其揭露一种具测试架构的平面显示装置，包含基板、多数条传输线、多数条信号线、多数条短路配线以及多数个晶体管。基板包含可挠性印刷电路板接合区，此可挠性印刷电路板接合区包含多数个连接垫。多数条传输线设置于基板上，每一条传输线耦接于可挠性印刷电路板接合区的对应连接垫。多数条信号线平行地设置于基板上。多数条短路配线设置于基板上。多数个晶体管设置于基板上。每一个晶体管包含第一端、第二端与栅极端，其中第一端耦接于对应短路配线，第二端耦接于对应信号线，栅极端耦接于多数条传输线的栅极信号传输线。该栅极信号传输线一端耦接对应连接垫，另一端耦接第一测试垫。

较佳的，该基板另包含多数个驱动芯片设置区，该栅极信号传输线经由该些驱动芯片设置区的至少一个驱动芯片设置区耦接于该些连接垫的一对应连接垫。

较佳的，另包含：至少一第二测试垫，设置于该基板上，该第二测试垫耦接于该些短路配线的一对应短路配线。

较佳的，该些信号线为多数条数据线或多数条栅极线。