[发明专利]LED测试无效

专利信息
申请号: 201010275303.6 申请日: 2010-09-06
公开(公告)号: CN102012488A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 帕斯卡尔·贝思肯;菲特·恩古耶恩霍安;拉杜·苏尔代亚努 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: G01R31/44 分类号: G01R31/44
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: led 测试
【权利要求书】:

1.一种确定发光二极管LED的老化特性的方法,包括:

(i)向LED施加(46)电流应力脉冲;

(ii)在电流应力脉冲之后,监测(48)LED以确定由电流应力脉冲所引起的发热何时已经消散至期望水平;

(iii)在发热已经消散至期望水平之后,测量(50,52)LED的工作特性;以及

(iv)重复步骤(i)至(iii),直到确定完成。

2.如权利要求1所述的方法,还包括校准过程,所述校准过程包括:

(i)使(38,40)测量中的LED处于稳定温度;以及

(ii)测量(42,44)LED的原始性能,包括光学和电性能特性。

3.如权利要求2所述的方法,其中,光学和电性能特性包括以下项目中的一个或多个:

峰值波长;

谱宽;以及

电流-电压特性。

4.如前述权利要求中任一项权利要求所述的方法,其中,电流应力脉冲具有比LED的最大额定电流大的电流值。

5.如前述权利要求中任一项权利要求所述的方法,其中,电流应力脉冲具有在范围0.5A至10A中的电流值。

6.如前述权利要求中任一项权利要求所述的方法,其中,每个电流应力脉冲具有1s至30s的持续时间。

7.如前述权利要求中任一项权利要求所述的方法,其中,电流应力脉冲具有足够使二极管的温度升高至高于环境温度30℃以上的电流值和持续时间。

8.如权利要求7所述的方法,其中,电流应力脉冲具有足够使二极管的温度升高至高于环境温度50℃以上的电流值和持续时间。

9.如前述权利要求中任一项权利要求所述的方法,其中,监测LED包括随时间监测二极管正向电压。

10.如权利要求9所述的方法,其中,当正向电压的导数下降到预定值以下时,确定由电流应力脉冲引起的发热已经消散至期望水平。

11.如权利要求1至9之一的权利要求所述的方法,其中,当依赖温度的参数下降到预定值以下时,确定由电流应力脉冲引起的发热已经消散至期望水平。

12.如前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中,测量工作特性包括以下中的一个或多个:

(52)确定峰值波长;

(52)确定谱宽;以及

(50)确定电流-电压特性。

13.一种用于确定发光二极管LED的老化特性的测试电路,包括:

电流源电路(70),用于向LED(71)施加电流应力脉冲;

温度监测电路(72,74),用于监测LED以确定由电流应力脉冲引起的发热何时已经消散至期望水平;以及

分析电路(74),用于在发热已经消散至期望水平之后测量LED的工作特性。

14.如权利要求13所述的电路,其中,分析电路(74)适于确定峰值波长、和/或谱宽、和/或电流-电压特性。

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