[发明专利]一种X射线检测方法有效
申请号: | 201010278390.0 | 申请日: | 2010-09-12 |
公开(公告)号: | CN101943761A | 公开(公告)日: | 2011-01-12 |
发明(设计)人: | 吕冬煜;朱春雨;董明 | 申请(专利权)人: | 上海英迈吉东影图像设备有限公司 |
主分类号: | G01V5/00 | 分类号: | G01V5/00 |
代理公司: | 上海硕力知识产权代理事务所 31251 | 代理人: | 郭桂峰 |
地址: | 201206 上海市浦东新区金桥出*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 检测 方法 | ||
1.一种X射线检测方法,其特征在于,包括下列步骤:
(1)同步采样被检测物的透射图以及背散射图;
(2)对上述透射图以及背散射图进行坐标校正并匹配,形成同时显示被检测物透射信息和背散射信息的综合图;
(3)提取背散射图的危险物体的区域以及区域特征;
(4)匹配对应的透射图中对应的危险物体的区域;以及,
(5)在所述综合图中匹配相对应的区域上做上标记并显示出来。
2.根据权利要求1所述的X射线检测方法,其特征在于,步骤(1)中,所述同步采样是在竖直方向上进行多次点扫描进行的。
3.根据权利要求1所述的X射线检测方法,其特征在于,步骤(1)中,所述被检测物的透射图以及背散射图的宽度和高度都是相同的。
4.根据权利要求1或2所述的X射线检测方法,其特征在于,所述同步采样通过时间积分的控制方式进行控制,实现被检测物的透射图以及背散射图是同步采样的。
5.根据权利要求2或3所述的X射线检测方法,其特征在于,步骤(1)中,进一步包括:(11)X射线源发射点光束,穿过被检测物落到透射探测器上形成透射图上一点,同时由被检测物散射落在背散射探测器上形成背散射图上的一点;(12)判断是否完成一个周期图像的采集;(13)重复步骤(11),继续下一个点的采集,最后形成被检测物的透射图以及背散射图。
6.根据权利要求1所述的X射线检测方法,其特征在于,步骤(2)中,进一步包括:(1)提取透射图和背散射图内物体边缘对应特征;(2)进行空间坐标校正;(3)进行透射图和背散射图图像匹配,形成同时显示被检测物透射信息和背散射信息的综合图。
7.根据权利要求1所述的X射线检测方法,其特征在于,步骤(3)中,是根据背散射图像中危险品亮度较高的特征,通过阈值等提取方式获得所有危险品区域集合的。
8.根据权利要求1所述的X射线检测方法,其特征在于,步骤(5)中,进行标记时是在对应危险品图像区域进行加亮并显示突出的色彩。
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